ОСНОВНЫЕ АНАЛИТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ТЕХНИКО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОИЗВЕДЕНИЙ СТАНКОВОЙ ЖИВОПИСИ 12 страница

__________

* См. работу Р. И. Каганович («Сообщения» ВЦНИЛКР, № 21, 1968).

цы пигмента немедленно распадаются. Этот процесс хорошо прослеживается под бинокулярным микроскопом при пятидесятикратном увеличении. При нагревании образцы масляной живописи дают специфический запах жженого масла, выделяя белые пары, окрашивающие смоченную дистиллированной водой бумажную полоску универсального индикатора в красный цвет, затем они обугливаются.

Масляно-смоляные связующие и покровные пленки в растворах едких щелочей ведут себя подобно масляным; в хлороформе они частично растворяются, не разрушая красочного слоя.

Образовавшееся по краям капли масляно-смоляное кольцо флуоресцирует в ультрафиолетовых лучах.

Восковые связующие и покровные пленки хорошо растворяются хлороформом, нарушая связь между частицами пигмента. Другим их отличительным признаком является сравнительно низкая температура плавления (40 — 90°С).

3. ЭМИССИОННЫЙ МИКРОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ

Основы метода и используемая аппаратура.Для определения состава неорганических веществ наряду с химическим анализом широко применяется эмиссионный спектральный анализ — физический метод определения качественного и количественного состава вещества по спектрам излучения его паров. Если раскаленные пары состоят из смеси двух или нескольких различных элементов, то в спектре будут присутствовать спектральные линии всех имеющихся в этой смеси элементов.

Схематически процесс эмиссионного спектрального анализа может быть представлен в следующем виде: превращение взятой пробы в парообразное состояние с помощью электрической дуги или искры, возбуждение свечения газа, разложение излучения в спектр при помощи спектральных аппаратов, фотографическая или фотоэлектрическая регистрация спектра и оценка по спектру содержания химических элементов в анализируемой пробе.

В практике спектрального анализа используются главным образом призменные спектральные приборы (см. илл. 47, 48), работа которых основывается на явлении дисперсии, то есть на разложении света сложного состава на его составляющие. В результате этого получается линейный спектр — совокупность отдельных святящихся линий разных длин волн — фиксируемый на фотографическую пластинку (илл. 44).

Важное значение при эмиссионном спектральном анализе имеет выбор электрического источника питания, с помощью которого исследуемый твердый образец переводят в парообразное состояние и возбуждают спектры атомов и молекул, попавших в зону высокой температуры. Для проведения количественных и качественных анализов таким источником служит дуговой генератор ДГ-2, работающий в дуговом, искровом и высокочастотном режимах; для выполнения локальных спектральных анализов используют электронный генератор Эгли-2 (илл. 47), позволяющий проводить анализы практически без повреждения поверхности объекта. С помощью этого генератора можно добиться очень высокой чувствительности определения малых концентраций в пробах. В последнее время для исследования красочных слоев живописи стали применять квантовые генераторы — лазеры (илл. 48), используемые для введения небольшого ко-

личества вещества вэлектрический разряд. Энергия излучения этих приборов концентрируется на ничтожно малой поверхности образца и, нагревая ее до высокой температуры, вызывает испарение и взрывообразный выброс мельчайшей частицы вещества, которая поступает в электрический разряд, где, испаряясь, излучает свет, направляемый в спектральный прибор.

Диаметр кратера, выжигаемого на поверхности образца (шлифа), составляет около 0,01 мм. Примерно такова же глубина кратера. Нужно, однако, учитывать, что чувствительность микроспектрального анализа с применением лазера уступает чувствительности обычного микроспектрального анализа.

Качественный анализ.Основным этапом качественного спектрального анализа является установление принадлежности спектральных линий тому или иному элементу. Эта задача может быть решена визуальным или спектрографическим методами. Преимущество спектрографического метода заключается в его документальности, возможности проверки и уточнения получаемых результатов. При визуальном методе спектр изучается в процессе горения дуги или искры.

При спектрографическом методе исследования спектр фиксируется на фотографической пластинке, что позволяет затем применить приборы, обеспечивающие точное измерение длин волн неизвестных линий и на основании одной спектрограммы определить, какие элементы входят в состав пробы. С целью облегчения расшифровки спектрограмм рядом со спектрами исследуемых проб фотографируют спектры железа (см. илл. 44). Для качественного спектрографического анализа пигментов обычно применяют электрическую дугу постоянного или переменного тока, в которой возбуждаются так называемые «последние»* спектральные линии и чувствительность определения значительно выше чем в искре. Бывают, однако, объекты, которые дуговой разряд разрушают. Поэтому, если важно добиться высокой чувствительности анализа, необходимо пользоваться дугой, если же надо узнать состав объекта и при этом важно не повредить его, — нужно пользоваться микроискрой, слабо воздействующей на образец. Учитывая специфику материалов, с которыми приходится сталкиваться при исследовании живописи, необходимо, прежде чем приступить к фотографированию, выяснить происхождение пробы и представить себе, какие элементы и в каких примерно концентрациях могут в ней присутствовать. В зависимости от задачи исследования и характера пробы выбирают режим работы.

Для увеличения полученного с помощью спектрографа изображения спектра и измерения расстояния между линиями служат измерительные микроскопы и спектропроекторы. Последние являются наиболее совершенными приборами для расшифровки спектрограмм. Обычно пользуются спектропроектором ПС-18 или спектропроектором SP-2 (Цейсс). Снятый спектр фокусируется на экране с помощью объектива, и его расшифровка проводится путем сравнения со спектром атласа спектральных линий. Следует помнить, что различные

__________

* В анализируемых образцах различные элементы могут содержаться в концентрациях от десятых до тысячных долей процента. При больших концентрациях элемента на спектрограмме будет зафиксировано большинство его линий. С уменьшением содержания элемента число линий в спектре и их интенсивность уменьшаются. Последними исчезают наиболее чувствительные линии, которые и называют «последними» линиями.

спектрографы несколько отличаются по своей дисперсии, поэтому при расшифровке спектрограмм нужно тщательно следить за точностью совмещения спектра на экране и в атласе*. Кроме идентификации отдельных спектральных линий при расшифровке спектрограмм необходимо определить плотность почернения каждой линии на фотографической пластинке, поскольку с увеличением количества элемента в пробе интенсивность спектральных линий возрастает. Прибор, служащий для этой цели, называется микрофотометром. В практике спектральных лабораторий применяются микрофотометры МФ-4.

Количественный анализ. На определении связи интенсивности спектральных линий с концентрацией вещества основан количественный спектральный анализ. Так как добиться одинакового поступления вещества в разряд и создать неизменные условия возбуждения атомов почти не удается, в практике спектрального анализа концентрацию элементов в пробе определяют по отношению интенсивностей двух спектральный линий. С этой целью кроме линий определяемого элемента выбирают линию другого элемента, который входит в состав анализируемой пробы в известном количестве, или такой элемент вводят в определенном количестве во все пробы. Линии, выбранные для анализа, называют аналитическими парами линий. Поэтому для проведения

__________

* Отождествление снятого спектра железа со спектром атласа производится следующим образом: сначала в спектре железа отыскивается та характерная группа линий, которая ближе всего расположена к отождествляемому участку спектра. Затем подбирается планшет атласа, содержащий ту же группу линий. Совместив на экране спектропроектора характерную группу линий в спектре, снятом на фотопластинке, со спектром планшета, отождествляют соседние участки спектров в пробе.

анализа необходимо иметь эталонные образцы с известными концентрациями определенных элементов.

Спектры эталонов и анализируемых проб фотографируют при одинаковых условиях. Зная концентрацию определяемого элемента в эталонах и определив для них отношение интенсивностей аналитической пары линий, строят градуировочный график. Пользуясь градуировочным графиком по измеренному отношению интенсивностей аналитической пары линий для исследуемого образца, можно установить количественное содержание определяемого элемента. Однако для построения графика одного эталона недостаточно. Обычно для построения градуировочной прямой нужно по меньшей мере три эталона, так как при пользовании даже двумя эталонами можно допустить существенную погрешность. Метод трех эталонов является основным и наиболее простым методом количественного спектрального анализа. Анализ по этому методу проводят, фотографируя при одинаковых условиях на одной пластинке спектры исследуемых проб и трех или более эталонных образцов. Для повышения точности результатов спектры каждого эталона и пробы фотографируют по три раза. На полученных спектрограммах измеряют почернение линии определяемого элемента и элемента сравнения. Для каждого спектра по измеренным почернениям находят значение разности почернений.

Из трех разностей почернений, соответствующих каждому образцу, определяют среднее значение и затем по эталонам строят график. По найденным значениям определяют неизвестные содержания интересующего элемента. Таким же образом устанавливают концентрации других элементов, входящих в состав анализируемых образцов.

Анализ образцов красочного слоя.Взятые для анализа частицы красочного слоя содержат большое количество разнородных веществ и, как правило, состоят не из одного, а из нескольких слоев. Количество слоев, их состав, толщина и взаимное расположение различны на разных участках одного и того же произведения. Это создает известную сложность в проведении спектрального анализа. Поэтому, прежде чем приступить к его выполнению, нужно выяснить все особенности взятой пробы (количество красочных слоев, толщину каждого слоя, их взаимное расположение и проч.). Хотя проба для анализа бывает минимальных размеров, она должна быть достаточной для исследования. Обычно отобранный образец красочного слоя представляет собой кусочек площадью 0,5 мм² (толщина определяется количеством живописных слоев).

Для снятия пробы существуют различные приспособления. Обычно наиболее удобен для этого маленький глазной ланцет, острие которого вводят в трещину красочного слоя и отделяют его частицу. Снятая проба помещается в аптечную капсулу, на которую наклеивается этикетка с указанием названия картины, автора, даты исполнения и местоположения снятых частиц.

Непосредственно перед анализом снятая проба, если позволяют ее размеры, делится на две части. Из одной части по описанной выше методике готовят хорошо отполированный шлиф поперечного сечения образца, который изучают под микроскопом. В процессе изучения шлифа определяют количество красочных слоев в пробе, их цвет, наличие внутри слоя зерен одного, двух или нескольких пигментов, их количественное соотношение и другие технологические особенности. Затем шлиф исследуют послойно на микроспектральной установке или на установке с применением лазерного анализатора. Если установлено, что живопись однослойна, то вторая часть снятой пробы превращается в порошок и смешивается со спектрально чистым угольным порошком. Смесь тщательно растирается в микроступке до пудрообразного состояния. Затем 2 мг смеси завертывается в беззольную фильтровальную бумагу, предварительно проверенную на чистоту, и помещается в таком виде в углубление спектрально чистого угольного электрода для сжигания и получения спектра.

При работе на спектральных аппаратах необходимо соблюдать правила техники безопасности. К работе в лаборатории допускаются только лица, прошедшие специальную подготовку, хорошо знакомые с принципами действия и устранения различных неполадок. Полы и рабочие столы во всех помещениях спектральной лаборатории должны быть только деревянными. Участки пола перед рабочими местами у источников возбуждения спектра должны покрываться резиновыми ковриками. Во время работы на установке при ней должны находиться только те сотрудники, которые выполняют данную работу, но не менее двух человек.

4. РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

Основа метода.Все материальные тела построены из химических элементов, число которых немногим превышает сто. Однако сложные вещества, образующиеся в результате соединения этих элементов, исчисляются многими сотнями тысяч и обладают самыми разнообразными свойствами. Различие свойств этих соединений обусловливается разницей их химического состава и структурой расположения атомов. При этом некоторые вещества, в том числе и кристалличе-

ские, используемые в качестве пигментов, могут иметь совершенно одинаковый химический состав, но отличаться по своей структуре. Существует много методов определения состава и структуры вещества. К наиболее важным из них принадлежит метод рентгеноструктурного анализа.

Как известно, атомы кристалла размещены в пространстве в определенном порядке, образуя так называемую пространственную решетку. Так как межатомные расстояния в кристалле — величины того же порядка, что и длины волн рентгеновских лучей, кристалл является для них своеобразной трехмерной дифракционной решеткой.

Для определении кристаллической структуры вещества необходимо знать параметры элементарной ячейки кристаллической структуры и координаты атомов, заполняющих элементарный параллелепипед, закон симметрии, которому подчиняется это расположение и межплоскостные расстояния*. Все

__________

* Согласно закону Вульфа-Брэгга, сложное явление интерференции рентгеновских лучей (то есть сложения в пространстве двух или нескольких воли с одинаковыми периодами), рассеянных кристаллом, приводит к таким же результатам, какие должно было бы дать их зеркальное отражение от атомных плоскостей кристалла. Это отражение возможно лишь при соблюдении особого условия, описываемого формулой Вульфа-Брэгга 2d sin θ = пλ, где d — расстояние между парой соседних параллельных атомных плоскостей, θ— угол скольжения пучка лучей по отношению к отражающей плоскости, λ — длина волны, n — целое число, так называемый порядок отражения.

Самую простую характеристику кристаллической структуры минерала дают межплоскостные расстояния d, связанные с периодичностью в расположении атомов. Атомные же плоскости определяются их положением в пространстве, которое оценивается относительно координатных осей, непосредственно связанных с элементарным объемом повторяемости — элементарной ячейкой кристаллической структуры. Элементарная ячейка является параллелепипедом, симметрия которого соответствует симметрии структуры кристалла в целом, а направления ребер принимаются за оси координат.

эти сведения дает дифракционная картина — рентгенограмма вещества, которую можно получить, направив на исследуемый объект пучок рентгеновских лучей.

Одним из наиболее распространенных методов рентгеновского анализа, используемых для определения фазового* состава вещества, является метод порошка (метод Дебая-Шеррера). В этом случае монохроматический пучок рентгеновских лучей направляют на неподвижный поликристаллический образец. Так как кристаллики, из которых состоит образец, очень малы, то в просвечиваемом объеме образца их оказываются десятки миллионов. Следовательно, всегда имеются любые их ориентировки по отношению к лучу, в том числе и те, которые удовлетворяют условию Вульфа-Брэгга. Для каждой плоскости кристалла из таких отраженных разными кристалликами лучей получится конус. Эти конические поверхности и дают на фотопластинке систему линий различной интенсивности (разной степени почернения).

Рассчитав полученную таким путем дебаеграмму, можно получить сведения о межплоскостных расстояниях в кристалле и в простейших случаях определить его структуру.

Суммируя вышесказанное, можно сделать следующий вывод: рентгеновский метод фазового анализа основан на том, что каждое кристаллическое вещество дает специфическую интерференционную картину с определенным количеством, расположением и интенсивностью рентгеновских линий, которые определяются природой и расположением атомов в данном веществе. Так как почти не встречается

__________

* Фазой называется совокупность телесных объектов, имеющих определенный химический состав; одна фаза отделена от других фаз поверхностью раздела.

двух кристаллических веществ, которые обладали бы одинаковой во всех отношениях структурой, то рентгенограммы почти однозначно характеризуют исследуемое вещество. В смеси нескольких веществ каждое из них дает свою картину рентгеновской дифракции независимо от других. Полученная рентгенограмма смеси представляет собой сумму рентгенограмм, которые получались бы, если бы на одну и ту же пленку поочередно снимали каждое вещество отдельно.

Метод рентгеновской дифракции — единственный прямой способ идентификации фаз, которые может дать одно и то же вещество. К достоинствам рентгеновского фазового анализа должны быть отнесены: высокая достоверность метода; то что метод прямой, так как в принципе он основан не на косвенном сравнении с какими-либо эталонами или изменениями свойств, а непосредственно указывает на кристаллическую структуру вещества — наилучшую характеристику каждой фазы; наконец, этот метод не требует большого количества вещества и анализ можно проводить без разрушения исследуемого образца.

Используемые приборы. Источником рентгеновских лучей при проведении фазового анализа служат специальные рентгеновские трубки, являющиеся частью рентгеновской установки. По способу регистрации рентгеновских лучей эти установки делятся на два типа. К первому относятся установки с фотографическим методом регистрации рентгеновских лучей на специальной рентгеновской пленке, а ко второму — установки, на которых рассеянное образцом рентгеновское излучение регистрируется специальным счетчиком (типа Гейгера или сцинцилляционным), а затем усиленный в специальном усилителе сигнал подастся на потенциометр с непрерывной записью на ленту. На втором принципе работают отечественные установки ДРОН и УРС-50 ИМ.

При правильно выбранных режимах съемки и проявления пленки чувствительность фотографического метода выше, чем дифрактометрического с непрерывной записью. Это объясняется тем, что при фотографическом способе регистрации дифракционная картина фиксируется и формируется во всем интервале углов, тогда как в случае ионизационного способа — в ограниченном интервале углов Вульфа-Брэгга и для ограниченных ориентировок кристалла. Кроме того, фотометод вследствие фиксирования пространственного распределения дифрагированных лучей дает дополнительные, по сравнению с дифрактометрическим методом, сведения для разделения линий, принадлежащих фазам с разной дисперсностью. Отечественная промышленность выпускает несколько типов рентгеновских установок с фотографической регистрацией: УРС-60, МАРС-1, УРС-01 и др. (илл. 49).

При фотометоде исследуемый объект помещается в рентгеновскую камеру — специальное устройство, позволяющее регистрировать на рентгеновской пленке дифракционные рентгеновские максимумы. Для проведения фазового анализа наиболее удобными являются камеры общего назначения, позволяющие исследовать поликристаллы во всем интервале брегговских углов.

Методика исследования. Так как пигменты и наполнители грунтов, применяемые в живописи, находятся в поликристаллическом состоянии, для проведения фазового анализа используется, как правило, метод порошка. Исследуемый объект (краска, пигмент, грунт), осторожно снятый с небольшого участка произведения (без

нанесения ущерба его художественной ценности), превращается в порошок и наклеивается с помощью цапоп-лака на стеклянную нить. Так как цапон-лак сам рассеивает рентгеновские лучи и создает дополнительный фон на рентгенограмме, его следует употреблять в как можно меньшем количестве.

Окончательный диаметр образца не должен превышать 0,3 — 0,5 мм, а длина его обычно составляет 5 — 10 мм. В том случае, когда порошок имеет крупнокристаллическую структуру, на рентгенограмме получаются интерференционные линии, состоящие из отдельных точек-рефлексов, что мешает точно промерить рентгенограмму. Если размер зерен не превышает 100 — 500 нм, можно избавиться от пунктирности линий, вращая объект вокруг собственной оси. Это объясняется тем, что при съемке подвижного образца в создании дифракционной картины участвует большее число кристалликов.

При съемке рентгенограммы очень важно правильно выбрать нужное излучение, которое зависит от материала анода рентгеновской трубки. Следует иметь в виду, что порядковый номер вещества, из которого изготовлен анод, должен быть ниже, равен или, в крайнем случае, на единицу выше порядкового номера самого легкого содержащегося в исследуемом веществе элемента. Содержание в исследуемом веществе в большом количестве элемента с порядковым номером на несколько единиц меньше порядкового номера вещества анода приводит к тому, что под действием первичных лучей этот элемент испускает вторичное излучение, не поглощающееся в воздухе и вуалирующее рентгенограмму.

Чаще других применяются трубки с хромовым, железным, кобальтовым и медным анодом. Так как при проведении рентгеноструктурного анализа важно получить высокую интенсивность и жесткость излучения, в тех случаях, когда это возможно, используют трубки с медным анодом*.

Кроме длины волны и мощности рентгеновского излучения продолжительность съемки рентгенограмм зависит от целого ряда других причин: от чувствительности пленки, диаметра диафрагмы, расстояния между фокусом трубки и образцом, от качества установки камеры, толщины образца и порядкового номера исследуемого элемента. При прочих равных условиях продолжительность съемки тем выше, чем ниже сингония (тип кристаллической решетки) исследуемой фазы. Например, вещества с кубической сингонией снимаются в 3 — 4 раза быстрее, чем с моноклинной.

Исследуемые образцы, взятые с произведений живописи, имеют сложный состав и состоят из смеси нескольких веществ, каждое из которых дает на рентгенограмме большое количество рефлексов (чем ниже сингония вещества, тем больше линий на рентгенограмме). Кроме того, связующие вещества красок и грунта создают дополнительный фон на рентгенограмме, вследствие чего рефлексы с небольшой интенсивностью становятся еще менее заметными.

Для получения рентгенограмм высокого качества (без фона) применяется монохроматическое излучение, содержащее только одну длину волны. Самый радикальный способ получения чистого рентгеновского излуче-

* Медный анод обладает высокой теплопроводностью и выдерживает большие нагрузки; он позволяет получить более интенсивное и более жесткое излучение, которое меньше поглощается при выходе из трубки воздухом и самим объектом. Поэтому при работе с медным анодом можно давать меньшие экспозиции, чем при работе с легкими анодами, дающими более мягкое излучение.

ния — использование кристалла-монохроматора, в качестве которого можно использовать плоский кристалл фтористого лития.

Снимки, полученные с помощью кристалла монохроматора, получаются очень чистыми, но время выдержки из-за ослабления рентгеновских лучей при отражении от кристалла возрастает в 5 — 8 раз.

Съемки с монохроматором используют только тогда, когда необходимо получить на рентгенограмме очень слабые линии интересующей фазы. В остальных случаях, когда на рентгенограммах наблюдается очень сильный фон, съемки можно проводить на две наложенные друг на друга рентгеновские пленки, первая изкоторых задерживает диффузный фон. Однако для получения четких линий на второй пленке приходится также увеличивать время выдержки примерно в два раза. Обычная экспозиция при съемке в камерах РДК на одну пленку на медном излучении составляет 6 — 8 часов. При съемке на две пленки время выдержки возрастает до 20, а при работе с монохроматором — до 50 часов.

В результате съемки на рентгенограмме получают систему линий, принадлежащих различным фазам. Как уже отмечалось, каждая фаза обладает своей кристаллической решеткой. Семейства атомных плоскостей, образующих эту решетку, обладают своим, характерным только для данной решетки набором значений межплоскостных расстояний.

Знание межплоскостных расстояний исследуемого объекта позволяет, таким образом, охарактеризовать его кристаллическую решетку и установить во многих случаях вещество или фазу. Эта задача может быть решена для любого поликристаллического вещества независимо от типа его кристаллической решетки.

В том случае, когда известно происхождение исследуемого вещества, его химический состав или имеются данные спектрального анализа, можно сузить круг веществ, среди которых следует искать интересующую нас фазу или несколько фаз.

Обычно для расшифровки рентгенограмм пользуются данными о межплоскостных расстояниях различных веществ, приведенными в соответствующих справочниках.

РЕКОМЕНДУЕМАЯ ЛИТЕРАТУРА

К РАЗДЕЛАМ «ЗНАЧЕНИЕ ТЕХНИКО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ» И «МЕТОДИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ТЕХНИКО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ»

1. Гренберг Ю. И., Научно-техническое исследование произведений искусства. — «Сообщения» ВЦНИЛКР, № 21, 1968, стр. 3 — 26.

2. Гренберг Ю. И., Аналитические методы и их возможности при технико-технологическом изучении произведений живописи. — «Сообщения» ВЦНИЛКР, № 24 — 25, 1969, стр. 2 — 50.

3. Гренберг Ю. И., Очерки истории технико-технологических исследований живописи. — «Сообщения» ВЦНИЛКР, №26 — 29, 1970 — 1975.

К РАЗДЕЛУ «ФИЗИКО-ОПТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ»

Исследование в видимой области спектра

4. Гагман Н. А., Фотосъемка произведений искусства, М., «Искусство», 1963.

5. Гренберг Ю. И., Физико-оптические методы исследования, — «Сообщения» ВЦНИЛКР, № 28, 1973, стр. 3 — 35.

6. Дуб А. Л. и Глассон Г. Л., Фотографическая документация музейных объектов. — «Сообщения» ВЦНИЛКР, № 16, 1966.

7. Кудряшов Н. Н., Гончаров Б, А., Специальные виды фотосъемки, М., «Искусство», 1959.

8. Неблит К. Б., Фотография, ее материалы и процессы. Пер. с англ., М., «Искусство», 1958.

9. Рыбников А. А., Фактура классической картины, М., изд. ГТГ, 1927.

10. Эйсман А. А., Николайчик В. М., Физические методы выявления невидимых текстов, М., 1961.

Исследование с помощью ультрафиолетового излучения

11. Вавилов С. И., О «теплом» и «холодном» свете. М., «Знание», 1956.

12. Гренберг Ю. И., Исследования спомощью ультрафиолетовых лучей. — «Сообщения» ВЦНИЛКР. № 28, 1973, стр. 35 — 62.

13. Гренберг Ю., Зайцев А., Люминесцентный метод исследовании произведений искусства. — Журн. «Искусство», 1963. № 3, стр. 64 — 66.

14. Константинова-Шлезингер М. А., Люминесцентный анализ. М. — Л., Изд-во АН СССР, 1948.

15. Левшин В. Л., Люминесценция и ее техническое применение. М., Изд-во АН СССР, 1956.

16. «Люминесцентный анализ». Под ред. М. А. Константиновой-Шлезингер. М., Гос. изд-во физико-математической литературы, 1961.

17. Сильченко Т. Н., Исследование картин рентгеновскими иультрафиолетовыми лучами. — Сб. «Реставрация и исследование художественных памятников». М., «Искусство», 1955, стр. 6 — 21.

18. См. № 10.

19. Эрастов Д. П., Основные методы фотографического выявления угасших текстов. М. — Л., Изд-во АН СССР, 1958.

20. Эрастов Д. П., Контроль технологических режимов в репродукционной технике выявления угасших изображений. Сообщение I. Индикаторы для контроля оптических условий фотографирования. — Сб. «Новые методы реставрации и консервации документов и книг», М. — Л., Изд-во АН СССР, 1960, стр. 131 — 138.

Исследование в инфракрасном излучении

21. Гренберг Ю. И., Исследования в инфракрасных лучах. — «Сообщения» ВЦНИЛКР, № 28, 1973, стр. 62 — 93.

22. Дерибере М., Практические применения инфракрасных лучей. Пер, с франц. М. — Л., Гос. энергетическое изд-во, 1959.

23. Дуб А., Электронно-оптический преобразователь для исследования живописи. — Журн. «Искусство», 1966, № 10, стр. 47 — 49.

24. Лазарев Д. И., Эрастов Д. П., Инфракрасная люминесценция в репродукционной технике. — «Доклады Академии наук СССР», т. 46, № 2, 1954, стр. 281,

25. Леконт Ж., Инфракрасное излучение, М., Гос. изд-во физико-математической литературы, 1958.

26. Марголин И. А., Румянцев Н. П., Основы инфракрасной техники, М., Воениздат, 1957.

27. Соловьев С. М., Инфракрасная фотография, М., «Искусство», 1960.

28. См № 10.

29. См. № 19.

30. См. № 20,

31. Эрастов Д. П., Электронно-оптический преобразователь как прибор для предварительного исследования документов. — Сб. «Проблема долговечности документов и бумаги», М. — Л., АН СССР. Лаборатории консервации и реставрации документов, 1964, стр. 110 — 112.