Фізична кристалографія

Фізична кристалографія вивчає закономірності фізичних явищ у кристалах, обумовлені симетрією їх внутрішньої будови.

Основою аналізу фізичних властивостей кристалів залежно від їх структури є принцип, сформульований німецьким фізиком Францем Нейманом, згідно з яким симетрія фізичних властивостей кристала не нижча за його просторову симетрію.

А оскільки симетрія структури є результат динамічної рівноваги багатьох сил і процесів, то зовнішньою дією, наприклад, механічним зусиллям, електричним або магнітним полем, додаванням атомів домішок, комбінуванням термодинамічних умов можна дещо порушити цю рівновагу, а значить змінити властивості кристала. Це відкриває широкі можливості управління властивостями, тобто отримання кристалів із заданими фізичними характеристиками.

Фізичні властивості поділяють на дві групи:

· скалярні – незалежні від вибору напрями (щільність, теплоємність, теплота плавлення, температура плавлення та інших фазових переходів, коефіцієнт об'ємного розширення і так далі);

· векторні – залежні від напряму (модулі пружності, магнітна індукція та інші).

Тому для опису фізичних властивостей кристалофізика використовує математичний апарат – векторний і тензорний аналіз та вказівні поверхні.