Время жизни неравновесных носителей заряда
При воздействии на п/п света он получил избыточную концентрацию носителей Dn, Dp.
После прекращения энергетического воздействия на полупроводник избыточная концентрация носителей заряда в нем из-за процесса рекомбинации через некоторое время уменьшится до нуля.
!!! Количество носителей заряда, рекомбинирующих в единицу времени в единице объема (быстрота изменения концентрации), пропорционально избыточной концентрации и обратно пропорционально некоторому параметру t, который называют временем жизни неравновесных носителей заряда.
dn/dt =Dn/tn ; dp/dt =Dp/tp (2.10)
Концентрация неравновесных носителей заряда
n = Dn e –t/tn; p = Dp e –t/tp (2.11)
!!! временем жизни неравновесных носителей заряда является отношение избыточной концентрации (Dn или Dр) неравновесных носителей заряда к скорости изменения этой концентрации вследствие рекомбинации:
tn,р = Dn,p/( dn,p/dt) (2.12)
02.2013 Флёров А.Н. курс “ Электроника и МПУ” Для самостоятельного изучения
ПРИЛОЖЕНИЕ 1
http://ru.wikipedia.org/wiki/%C7%E0%EF%F0%E5%F9%B8%ED%ED%E0%FF_%E7%EE%ED%E0
Ширина запрещённой зоны различных материалов
| Материал | Энергия в эВ 300 K |
| C (Алмаз) | 5,46–6,4 |
| Si | 1,12 |
| Ge | 0,67 |
| Se | 1,74 |
| АIVВIV | |
| SiC 3C | 2,36 |
| SiC 4H | 3,28 |
| SiC 6H | 3,03 |
| АIIIВV | |
| InAs | 0,355 |
| InSb | 0,17 |
| InN | 0,7 |
| InxGa1-xN | 0,7–3,37 |
| GaN | 3,37 |
| GaP 3C | 2,26 |
| GaSb | 0,69 |
| GaAs | 1,42 |
| AlxGa1-xAs | 1,42–2,16 |
| AlAs | 2,16 |
| AlSb | 1,58 |
| AlN | 6,2 |
| АIIВVI | |
| TiO2 | 3,2 |
| ZnO | 3,37 |
| ZnS | 3,56 |
| ZnSe | 2,70 |
| CdS | 2,42 |
| CdSe | 1,74 |
| CdTe | 1,45 |
| CdS | 2,4 |
Дата добавления: 2015-08-08; просмотров: 750;
