Курс лекций

Кристалл τ3900 τ3585 τ3500 τ3410 α при υ, см-1 Q×10-6  
5(n=5) 1(n=1)
                   
                   

 

4. Контрольные вопросы

1. Методы определения добротности.

2. ИК - метод определения добротности

3. Коэффициент экстинкции.

4. Оптическая схема ИК – спектрофотометра.

5. Принцип действия ИК - спектрофотометра.

6. Определение коэффициентов экстинкции.

7. Зависимость качества кристалла от значения коэффициента экстинкции.

8. Какую информацию дает спектральная характеристика кристалла?

Литература:

1. ГОСТ 23136-93. Материалы оптические. Параметры.-Минск: Изд-во Стандартов, - 1995 г. – 21с.

2. Мостяев В.А., Дюжиков В.И. «Технология пьезо- и акустоэлектронных устройств», -М., Ягуар, 1993г. – 280с.

3. Инструкция по эксплуатации инфракрасного спектрофотометра ИКС-29. – 52с

4. Справочник технолога-оптика /М.А. Окатов, Э.А. Антонов, А. Байгожин и др; Под ред. М.А. Окатова.-2 изд. - СПб:Политехника, 2004. – 679с


Оглавление

 

Определение и исследование спектральных характеристик пропускания кристаллов………………………………………………………………………….....3

 

Изучение оптических свойств кристаллов…………………………………………11

 

Определение и исследование качества кристаллов методом ИК – спектроскопии*..……………………………………………………………………..23

 

___________________

*Лабораторная работа написана автором совместно с Королевым В.А.


 

Московский Государственный Университет Приборостроения и Информатики

Кафедра: «Инновационные технологии в приборостроении, микро- и оптоэлектронике»

Дюжиков В.И.

Оптическое материаловедение

Курс лекций








Дата добавления: 2015-01-13; просмотров: 1095;


Поиск по сайту:

При помощи поиска вы сможете найти нужную вам информацию.

Поделитесь с друзьями:

Если вам перенёс пользу информационный материал, или помог в учебе – поделитесь этим сайтом с друзьями и знакомыми.
helpiks.org - Хелпикс.Орг - 2014-2024 год. Материал сайта представляется для ознакомительного и учебного использования. | Поддержка
Генерация страницы за: 0.006 сек.