Курс лекций
Кристалл | τ3900 | τ3585 | τ3500 | τ3410 | α при υ, см-1 | Q×10-6 | |||
5(n=5) | 1(n=1) | ||||||||
4. Контрольные вопросы
1. Методы определения добротности.
2. ИК - метод определения добротности
3. Коэффициент экстинкции.
4. Оптическая схема ИК – спектрофотометра.
5. Принцип действия ИК - спектрофотометра.
6. Определение коэффициентов экстинкции.
7. Зависимость качества кристалла от значения коэффициента экстинкции.
8. Какую информацию дает спектральная характеристика кристалла?
Литература:
1. ГОСТ 23136-93. Материалы оптические. Параметры.-Минск: Изд-во Стандартов, - 1995 г. – 21с.
2. Мостяев В.А., Дюжиков В.И. «Технология пьезо- и акустоэлектронных устройств», -М., Ягуар, 1993г. – 280с.
3. Инструкция по эксплуатации инфракрасного спектрофотометра ИКС-29. – 52с
4. Справочник технолога-оптика /М.А. Окатов, Э.А. Антонов, А. Байгожин и др; Под ред. М.А. Окатова.-2 изд. - СПб:Политехника, 2004. – 679с
Оглавление
Определение и исследование спектральных характеристик пропускания кристаллов………………………………………………………………………….....3
Изучение оптических свойств кристаллов…………………………………………11
Определение и исследование качества кристаллов методом ИК – спектроскопии*..……………………………………………………………………..23
___________________
*Лабораторная работа написана автором совместно с Королевым В.А.
Московский Государственный Университет Приборостроения и Информатики
Кафедра: «Инновационные технологии в приборостроении, микро- и оптоэлектронике»
Дюжиков В.И.
Оптическое материаловедение
Курс лекций
Дата добавления: 2015-01-13; просмотров: 1095;