Выбирать усиление следует на таком участке спектра, где нет интенсивных полос поглощения атмосферной воды и углекислого газа.

8. Установите перо на 100%-ную линию пропускания с по­мощью оси, перемещающей компенсирующий клин, отверткой через отверстие над вход­ным окном пучка образца.

9. Установите исследуемый образец в пучок, опустите пе­ро, нажмите кнопку ПУСК и произведите запись спектра.

 

2.2. Порядок выполнения работы

1. Получить у преподавателя образец кристалла.

2. Снять спектральную характеристику на спектрофотометре ИКС-29 в соответствии с методикой (п. 2.1).

3. Определить по спектральной характеристике коэффициент поглощения

4. Спектрограммы и таблицы приложить к отчету.

5. Сделать выводы по результатам измерения.

3.Содержание отчета

1. Основные положения теоретической части, включая оптическую схему спектрофотометра ИКС-29.

2. Спектральные кривые τλ полученных кристаллов в виде графиков.

3. Расчет коэффициента поглощения. Результаты измерения и расчета привести в таблице 2.

4. Краткий вывод по полученным результатам.

Таблица 2 - Результаты измерения и расчета

Кристалл τ3900 τ3585 τ3500 τ3410 α при υ, см-1 Q×10-6
5(n=5) 1(n=1)


 

4. Контрольные вопросы

1. Методы определения добротности.

2. ИК - метод определения добротности

3. Коэффициент экстинкции.

4. Оптическая схема ИК – спектрофотометра.

5. Принцип действия ИК - спектрофотометра.

6. Определение коэффициентов экстинкции.

7. Зависимость качества кристалла от значения коэффициента экстинкции.

8. Какую информацию дает спектральная характеристика кристалла?

Литература:

1. ГОСТ 23136-93. Материалы оптические. Параметры.-Минск: Изд-во Стандартов, - 1995 г. – 21с.

2. Мостяев В.А., Дюжиков В.И. «Технология пьезо- и акустоэлектронных устройств», -М., Ягуар, 1993г. – 280с.

3. Инструкция по эксплуатации инфракрасного спектрофотометра ИКС-29. – 52с

4. Справочник технолога-оптика /М.А. Окатов, Э.А. Антонов, А. Байгожин и др; Под ред. М.А. Окатова.-2 изд. - СПб:Политехника, 2004. – 679с


Оглавление

 

Определение и исследование спектральных характеристик пропускания кристаллов………………………………………………………………………….....3

 

Изучение оптических свойств кристаллов…………………………………………11

 

Определение и исследование качества кристаллов методом ИК – спектроскопии*..……………………………………………………………………..23

 

___________________

*Лабораторная работа написана автором совместно с Королевым В.А.


 








Дата добавления: 2015-01-13; просмотров: 1246;


Поиск по сайту:

При помощи поиска вы сможете найти нужную вам информацию.

Поделитесь с друзьями:

Если вам перенёс пользу информационный материал, или помог в учебе – поделитесь этим сайтом с друзьями и знакомыми.
helpiks.org - Хелпикс.Орг - 2014-2024 год. Материал сайта представляется для ознакомительного и учебного использования. | Поддержка
Генерация страницы за: 0.005 сек.