Применяются два основных метода оценки качества кристаллов кварца, предназначенных для производства.
Первый метод базируется на прямом измерении добротности кристаллических элементов АТ-среза диаметром 14 мм, имеющих форму плосковыпуклой линзы с радиусом сферы R= 50 мм на частоте 5 МГц (n=5) или двояковыпуклой линзы с R=30 мм на основной частоте 1 МГц (n=1) и изготовленных из представительного кристалла одного промышленного съема. Второй метод основан на косвенном определении добротности через коэффициент инфракрасного поглощения a, измеряемый в диапазоне волновых чисел υ=l-1 =3400….3600 см-1 на плоскопараллельных пластинах (или секциях).
Коэффициент поглощения ИК-излучения измеряется на инфракрасном спектрофотометре. Метод прост и удобен и почти полностью заменяет прямые измерения добротности. Водород является самой важной примесью в виде ОН-группы, оказывающей влияние на акустические потери при комнатной температуре, обуславливая полосы поглощения 3500, 3585, 3410 см-1 .
Коэффициент поглощения (экстинкции):
α3585= lg ( τ3900 / τ3585 ) / d, (1,1)
где τ3900, τ3585 – коэффициенты пропускания при 3900 и 3585 см-1 , d – толщина образца в см. Аналогично определяются коэффициенты поглощения α3500 и α3410 , которым соответствует определенное значение добротности Q. Добротность и коэффициенты поглощения кварца по сортам приведены в таблице 1.
Таблица 1- Нормируемые значения добротности Q и коэффициента поглощения a кварца
Сорт | Q•10-6 на частоте, МГц | a при волновом числе υ, см-1 | |||
5(n=5) | 1(n=1) | ||||
Aa | 3,8 | 0,01 | 0,02 | 0,069 | |
A | 3,0 | 7,0 | 0,024 | 0,03 | 0,08 |
B | 2,5 | 5,0 | 0,045 | 0,05 | 0,10 |
C | 1,8 | 3,5 | 0,06 | 0,07 | 0,12 |
D | 1,4 | 2,0 | 0,08 | 0,10 | 0,145 |
E | 1,0 | 0,12 | 0,15 | 0,19 |
Сорта Аа, А и В рекомендуются для производства изделия высшего качества. Сорт С подходит для производства высокочастотных изделий, требующих хороших ТЧХ, а также низких значений коэффициента ИК-поглощения α. Сорта D и Е в большинстве случаев применяют для изготовления низкочастотных изделий, для которых первостепенное значение имеют большие размеры кристалла и низкая стоимость.
Определение спектральных характеристик пропускания кристаллов производится на спектрофотометре ИКС-29.
1.2. Инфракрасный спектрофотометр ИКС-29
Принцип действия спектрофотометра при работе по двухлучевой схеме основан па нулевом методе. Световой поток от источника излучения направляется двумя пучками, в одном из которых помещается исследуемый образец, в другом — фотометрический клин и образец сравнения. Фотометрические свойства световых пучков одинаковы.
Оба пучка направляются на зеркальный модулятор, который попеременно пропускает их в монохроматор.
При отсутствии поглощения в обоих пучках на болометр попадают световые потоки одинаковой интенсивности, на входе усилительной системы при этом сигнал отсутствует.
При наличии поглощения в одном из пучков на болометр попадают потоки различной интенсивности, в результате чего возникает переменный сигнал, частота которого равна частоте прерывания.
Этот сигнал после усиления и преобразования подается на обмотку электродвигателя отработки, который перемещает фотометрический клин, уменьшая до нуля возникшую разность интенсивностей пучков.
Фотометрический клин механически связан с пишущим устройством СПП-4 (пером), которое, перемещаясь, регистрирует на бланке величину пропускания.
В однолучевом режиме прибор работает при электрическом разбалансе мостовой схемы. Оптическая схема спектрофотометра представлена на рисунке 1.
Рисунок 1 - Оптическая схема спектрофотометра ИКС-29
В качестве источников излучения для спектрофотометра используется дейтериевая лампа 1 - для работы в области спектра от 190 до 340 нм и галогенная лампа 3 - для работы в области спектра от 340 до 1100 нм.
Смена источников излучения производится автоматически при помощи плоского зеркала 2, которое в рабочем положении перекрывает световой поток от лампы 1, направляя на входную щель монохроматора световой поток от лампы.
Дата добавления: 2015-01-13; просмотров: 1871;