Практическая часть. Методика снятия спектральных характеристик кристалла в УФ, видимой и ИК областях спектра
Методика снятия спектральных характеристик кристалла в УФ, видимой и ИК областях спектра
Запустите программу “СФ-56” в системе Windows 98, включите спектрофотометр (запуск программы и включение спектрофотометра могут осуществляться в произвольной последовательности). Программа готова к работе, когда на мониторе появится меню.
Установите контролируемый образец в спектрофотометр так, чтобы крайняя позиция была свободной.
Работа по программе осуществляется с помощью меню, функциональных клавиш F1…F10, ESC (выход), ENTER (ввод), “↑”, “↓”, “←”, “→” или мыши.
Ввести начало и конец диапазона, в файле накопления ввести имя файла (например: silicium).
При нажатии клавиши F5 (пуск) запускается программа выполнения режима “Сканирования” в соответствии с заданными параметрами. В процессе измерений результаты отображаются в графическом и табличном виде.
Выбор режима “Вывод графика и таблицы на печать” осуществляется с помощью нажатия на “Печать”.
2.2. Порядок выполнения работы
1.Получить у преподавателя образец кристалла.
2.Снять спектральную характеристику на спектрофотометре СФ-56А в соответствии с методикой (п. 2.1).
3.Определить по спектральной характеристике область прозрачности, λгр. и Еg кристалла.
4.Распечатки в виде графика и таблицы приложить к отчету.
5.Сделать выводы по результатам измерения.
Содержание отчета
1.Основные положения теоретической части, включая формулы и оптическую схему спектрофотометра СФ-56А.
2.Спектральные кривые τλ полученных кристаллов в виде графиков и таблиц (распечатанных с компьютера).
3.Расчет коэффициента R, учитывающего потери на отражение кристаллов; коэффициента внутреннего пропускания τiλ; длины волны на границе прозрачности λгр. при τiλ=0,5; ширины запрещенной зоны Еg. Результаты измерения и расчета привести в табл. 3.1.
4.Краткий вывод по полученным результатам.
Таблица 1 - Результаты измерения и расчета
| Кристалл | τλ0 | λ0, нм | R | τiλ0 | 0.5τλ0 | λгр, нм | Еg, эВ |
Контрольные вопросы
1.Виды кристаллов и их область применения.
2.Спектральный коэффициент пропускания.
3.Интегральный коэффициент пропускания.
4.Связь между спектральным и интегральным коэффициентами пропускания.
5.Определить коэффициент R потерь на отражение.
6.Условие прозрачности кристаллов.
7.Принцип действия спектрофотометра СФ-56А.
8.Основные элементы и узлы спектрофотометра.
9. Какую информацию дает спектральная характеристика кристалла.
Литература
1.ГОСТ 23136-93. Материалы оптические. Параметры.-Минск: Изд-во Стандартов,-1995 г.
2.Химическая технология стекла и ситаллов. Под ред. Н.М. Павлушкина.-М.: Стройиздат,-1983г.-432с.
3.Спектрофотометр СФ-56А. Техническое описание-Л.:ЛОМО,-2001.-37с.
4.Оптическое стекло. Каталог.-М.: Машприбор.-1970г.
5.Справочник технолога-оптика /М.А. Окатов, Э.А. Антонов, А. Байгожин и др; Под ред. М.А. Окатова.-2 изд. - СПб:Политехника, 2004.-679с.
Дата добавления: 2015-01-13; просмотров: 1110;