Погрешности измерительных приборов (стрелочных)
Случайные погрешности
Результат каждого отдельного измерения xi будет отличаться от истинного значения а. Разность между измеренным значением и истинным значением будет называться случайной погрешностью.
1.7
Xi – измеренное значение.
а – истинное значение
Истинное значение «а» всегда неизвестно и предсказать результат каждого отдельного измерения невозможно, поэтому при измерениях используют статистические закономерности большого числа измерений и закон, по которому происходит распределение случайных погрешностей в зависимости от их величины.
Ряды случайных ошибок равноточных измерений обладают следующими свойствами:
1. по абсолютной величине случайные ошибки не могут превосходить определённого (известного) предела.
2. Малые по абсолютной величине ошибки встречаются чаще, чем большие.
3. Положительные ошибки появляются так же часто, как и одинаковые с ними по абсолютной величине отрицательные.
4. Сумма случайных погрешностей стремится к нулю. . Большие ошибке реже мелких, вот что это значит.
Погрешности измерительных приборов (стрелочных)
Стрелочные измерительные приборы характеризуются номинальной относительной погрешностью.
1.8
- абсолютная погрешность измерения;
В – показание прибора при измерении величины х.
Приведённая относительная погрешность
1.9
- максимальная абсолютная погрешность по шкале прибора;
Впр – максимальное (последнее) значение шкалы прибора.
По величине приведённой относительной погрешности приборы делят по точности на 8 классов: 0,05; 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5; 2,5; 4 (ГОСТ-1845-69). В соответствии с этим гостом каждое число определяет в процентах приведённую относительную погрешность.
Обычно абсолютная величина погрешности прибора по всей шкале примерно одинакова, поэтому номинальная относительная погрешность измерения тем больше , чем меньше наблюдаемый по шкале отсчёт. Следовательно, прибор для измерения следует выбирать так, чтобы ожидаемое показание находилось в последней трети его шкалы. Погрешность измерительного приборка складывается из основной, которая возникает при нормальных условиях работы прибора из-за конструктивных недостатков, старения ламп, полупроводниковых приборов, и дополнительных, обычно систематических, которые возникают из-за работы прибора в условиях, отличных от нормальных.
Дата добавления: 2016-01-18; просмотров: 615;