Раздел 4. Статистика равновесных носителей заряда

4.1 Распределение электронов и дырок по квантовым состояниям в главных энергетических зонах кристалла. Уровень Ферми. Поверхность Ферми. Плотность квантовых состояний для энергетических зон с изотропным и анизотропным законом дисперсии.

4.2 Концентрация электронов и дырок в зонах для различных степеней вырождения электронного или дырочного газа.

4.3 Статистика примесных состояний. Функция распределения электронов и дырок по примесным состояниям. Плотность примесных состояний. Примесные зоны. Влияние температуры и концентрации примеси на концентрацию свободных электронов и дырок.

4.4 Плотность квантовых состояний в квантово-размерных структурах с квантовыми ямами, квантовыми нитями и квантовыми точками.

 

Распределение электронов и дырок по квантовым состояниям в главных энергетических зонах кристалла. Уровень Ферми. Поверхность Ферми. Плотность квантовых состояний для энергетических зон с изотропным и анизотропным законом дисперсии.

 

Для определения s твердого тела необходимо знать равновесную (темновую) концентрацию электронов (n) и дырок (p).

Для определения n и p необходимо знать параметры зон – плотность квантовых состояний и вероятность их дополнения – функцию распределения электронов и h+ по состояниям.

Функции распределения электронов и дырок по квантовым состояниям разрешения зон (зона проводимости и валентная зона).

Электроны в металлах, полупроводниках подчиняются квантовой статистике. Вероятность заполнения уровня E при температуре T определяется функцией Ферми – Дирака:

Электроны проводимости – фермионы – частицы, обладающие полуцелым спином, и подчиняются принципом Паули:

 

F – уровень (энергия) Ферми, или электрохимический потенциал.

 

 

Основные свойства функции fФ-Д :

При T ® 0

При T = 0 функция терпит разрыв (то есть функция не определена).

Из графика следует, что f есть уровень, который разделяет занятые электронами состояния в зоне проводимости от свободных.

В металлах при T = 0: уровень F соответствует максимальной энергии электронов в зоне проводимости – энергии Ферми.

 

 

 

В - пространстве вводят

поверхность Ферми,

которая соответствует энергии EF.

 

 

Внутри сферы Ф – находятся электроны проводимости.

Проводимость по зоне проводимости - есть жесткое смещение сферы Ф в - пространстве под действием внешнего электрического поля на величину Dkx.

При температурах T > 0:

fФ-Д = 0,5 и F имеет смысл уровня, вероятность заполнения которого ½.

Функция fФ-Д претерпевает наибольшее изменение для энергий вблизи F.

При (E – F) >> kT функция fФ-Д переходит в классическую функцию Максвелла – Больцмана:

– это высокоэнергетический хвост функции fФ-Д.

 

 

Уровень F ниже Ec на энергию не меньше kT.

 

 

В этом случае действует классическая статистика Максвелла – Больцмана и полупроводников, подчиняющиеся этой статистике – невырожденные (по концентрации).

 

Невырожденный полупроводник n-типа – полупроводник, в котором уровень F лежит ниже Ec в запрещенной зоне на величину не меньше kT.

 

Таким образом, в невырожденном полупроводнике на уровне f – нет электронов в отличие от металла!

Невырожденный полупроводник p-типа – уровень F лежит выше Ec на величину kT.

 

Плотность состояний N(E)

- это число квантовых состояний в зоне, приходящихся на единичный интервал энергии в кристалле единичного объема.

 

Предположим, что в интервале энергии: (E,E + dE) находится dS состояний.

Тогда для кристалла единичного объема: dS = N(E)dE пропорционально dE

 

N(E) = dS/dE – плотность состояний.

 

N(E) связана с формой поверхности равной энергии.

Интервалу dE соответствует шаровой слой объема , которым выделяют поверхности равной энергии:

E, E + dE = const

 

 

Число состояний

- объем, приходящий на одно состояние.

 

Плотность состояний в зоне проводимости

Эффективная масса – скалярная величина mn

 

N(E) = dS/dE dS – число состояний в интервале E, E + dE в кристалле единичного объема.

- элемент объема - пространства, заключается между поверхностями равной энергии.

E = const и E +dE = const

 

Найдем , используя закон дисперсии для полупроводника с изотропной эффективной массой электрона mn

Поверхности E, E + dE заключают объем - пространства

(поверхности – сферы; - шаровой слой)

- найдем из закона дисперсии:

Таким образом

Для изотропной валентной зоны: (mp – эффективная масса дырки)

Таким образом, плотность состояний пропорциональна:

 

 

Зонная модель прямозонного полупроводника с использованием функций N(E)

Используется в физике полупроводниковых приборов.

 

Плотность состояний в зоне проводимости многодолинного (непрямозонного) полупроводника

Эффективная масса mn - тензорная величина.

Закон дисперсии - анизотропная квадратичная величина:

 

mC-1, mU-1, mZ-1 – компоненты эффективной массы.

 

Поверхности равной энергии – эллипсоидальные с полуосями.

 

a, b, c:

(j = x, y, z)

 

Объем эллипсоида: V = 4/3p * a b c

Объем , которым выделяют поверхности E и E + dE = const находят как приращение объема dV.

 

Таким образом, для одной долины:

N(E) = 2p (mx my mz)1/2 (2/h)3/2 (E – Ec)1/2

 

Для m-долин:

N(E) =m * 2p (mx my mz)1/2 (2/h2)3/2 (E – Ec)1/2

Приведем эту формулу к виду для прямозонного полупроводника.

Для этого введем понятие эффективной массы для плотности состояний mnd:

N(E) = 2p (2 mnd / h2) 3/2 (E – Ec)1/2

 

где mnd = m2/3 (mx my mz)1/2

Если поверхности – эллипсоиды вращения (электроны в Ge, Si)

mx = my = m^, mz =mïï

 

Таким образом, mnd = m2/3 (m2^ mïï)1/2\

m^ и mï½ определяется из эксперимента по циклотронному резонансу.

 

Смысл введения mnd

Позволяет многодолинную зону проводимости с анизотропной эффективной массой mn записать параболичной зоной с изотропной массой с одним абсолютным минимумом (нужно для вычисления концентраций).








Дата добавления: 2015-08-26; просмотров: 1365;


Поиск по сайту:

При помощи поиска вы сможете найти нужную вам информацию.

Поделитесь с друзьями:

Если вам перенёс пользу информационный материал, или помог в учебе – поделитесь этим сайтом с друзьями и знакомыми.
helpiks.org - Хелпикс.Орг - 2014-2024 год. Материал сайта представляется для ознакомительного и учебного использования. | Поддержка
Генерация страницы за: 0.022 сек.