Линейных измерений с использованием плоскопараллельной пластины

Контролируемую деталь устанавливают базовой поверхностью на поверочную плиту (рис. 3.50).

Схема расположения контрольных точек

1 – контролируемая деталь; 2 – измерительная головка;

3 – штатив (стойка); 4 – плоскопараллельная пластина; 5 – поверочная плита

Рис. 3.50. Измерение отклонения плоскостей от параллельности

Для исключения влияния отклонений формы измеряемой поверхности на нее накладывают плоскопараллельную пластину 4. С помощью измерительной головки 2, базирующейся в штативе или стойке 3 на поверочной плите 5, производят непрерывное измерение (сканирование) или дискретное измерение по отдельным точкам свободной поверхности детали 1 по контуру измеряемой поверхности. Если этот контур прямоугольный, то достаточно измерить четыре угловые контрольные точки.

Отклонение от параллельности определяют как разность наибольшего и наименьшего показаний измерительной головки во всех контрольных точках поверхности.

Если отклонение формы измеряемой поверхности пренебрежимо мало по сравнению с искомым отклонением от параллельности, можно применять методику выполнения измерений с ощупыванием самой измеряемой поверхности без наложения на нее плоскопараллельной пластины.

Возможен также вариант выполнения измерений без использования плоскопараллельной пластины и в случае значимых отклонений формы измеряемой поверхности. В этом случае измеряют координаты или отклонения множества контрольных точек измеряемой поверхности, располагающихся в узлах «сетки» как при контроле отклонения от плоскости. По полученным результатам измерений с использованием аналитических расчетов или/и графических построений определяют положение прилегающей или средней плоскости, а также отклонение от параллельности этой плоскости относительно соответствующей базы, которое и принимается в качестве искомого отклонения расположения.

Измерение отклонений от параллельности оси отверстий базовой плоскости детали прибором для линейных измерений с использованием оправки.

На поверочную плиту устанавливают базовой поверхностью измеряемую деталь и стойку или штатив с измерительной головкой (рис. 3.51).

1 – контролируемая деталь; 2 – поверочная плита;

3 – оправка; 4 – измерительная головка; 5 – штатив (стойка).

Рис. 3.51. Измерение отклонения от параллельности оси и плоскости

Ось контролируемого отверстия (или отверстий) материализуют с помощью оправки – цилиндрической или конической с малой конусностью. Возможно также использование оправок иной конструкции, например, разжимных цанговых, бесконтактных оправок на аэростатических опорах и др.

Положение оправки измеряют в двух точках, лежащих на расстоянии L_И друг от друга. Разность показаний измерительной головки, соответствующих размерам A₁ и A₂ в двух крайних точках участка измерения L_И и принимается в качестве отклонения от параллельности оси и плоскости на длине L_И. Искомое отклонение от параллельности Δ рассматриваемого элемента на нормируемой длине L_Н определяется путем пропорционального пересчета.

Если рассматриваемые отверстия имеют разные номинальные диаметры D и d, то для материализации их общей оси используют ступенчатую оправку (рис. 3.52).

1 – контролируемая деталь; 2 – поверочная плита;

3 – ступенчатая оправка; 4 – измерительная головка; 5 – штатив (стойка)

Рис. 3.52. Измерение отклонения от параллельности общей оси

двух отверстий и плоскости

Отклонение от параллельности общей оси двух отверстий относительно базовой плоскости на длине измерения L_И, рассчитывают пользуясь формулой:

.