Фейгенбаум А. Контроль качества продукции: Пер.с анг. М.: Экономика, 1990.

Quality Progress. 1986. № 12. /, л. Г. 3. Холпин Д. Бездефектность: Пер. с анг.М.: Мир, 1988.

Исикава Каору. Японские методы управления качеством. М: Экономика, 1988.

Курицын А. Н. Управление в Японии. Организация и методы. М.: Наука, 1981.

Пронников В. А., Ладанов И. Д. Японцы (этнопсихологические очерки). 2-е изд. М.:Наука, 1985.

Пронников В. А., Ладанов И. Д. Управление персоналом в Япо­нии. Очерки. М.: Наука, 1989.

Коно Т. Стратегия и структура японских предприятий: Пер. с анг. / Под ред. О. С. Виханского. М.: Прогресс, 1987.

Шонбергер Р. Японские методы управления производством. Де­вять простых уроков: Пер. с анг. /Под ред. Л. А.. Конаревой. М.: Эко­номика, 1988.

Дайков С. А. Управление качеством продукции в Японии (приложение к бюллетеню иностранной коммерческой информации). 1987. № 9. С. 2-24.

Спандарьян Б. Б., Спандарьян М. В. Автомобильная промышлен­ность Японии. М.: Наука, 1989.

Main I. The Battle for Quality Begins // Fortune. 1980. Dec. 29. P. 28.

Статистические методы повышения качества /Под ред. Хитоси Кумэ. М.: Финансы и статистика, 1990.

Васичев Б. Н. Электронно-зондовый микроанализ тонких пле­нок. М.: Металлургия. 1977.

Гойденко П. П., Колешко В.М., Буйко Л. Д. Контроль в техноло­гии микппялектппники. Мн.: Havica и техника 1979.

ЛИТЕРАТУРА

Рекомендуемая

1. Глудкин О.П. Методы и устройства испытаний РЭС и ЭВС. – М.: Высш. Шк., 1991. – 336с.

2. Федоров В.К., Сергеев Н.П., Кондрашин А.А. Контроль и испытания в проектировании и производстве радиоэлектронных средств. – М.: Техносфера, 2005. – 504 с.

3. Боровиков С.М. Теоретические основы конструирования, технологии и надежности. – Мн.: Дизайн ПРО, 1998. – 336с

4. Алиев Т.М., Тер- Хачатуров А.А. Измерительная техника. – М.: Высш. Шк.., 1991.- 384с.

5. Тартаковский Д.Ф., Ястребов А.С. Метрология, стандартизация и технические средства измерений. – М.: Высш. шк., 2001. – 205с.

6. Малинский В.Д. и др. Испытание аппаратуры и средств измерений на воздействие внешних факторов: Справочник.- М.:1993. – 576 с.

7. Бегларян В.Х. Климатические испытания аппаратуры и средств измерений. – М.: Машиностроение, 1987. – 156с.

8. Малинский В.Д. и др. Испытание аппаратуры и средств измерений на воздействие внешних факторов: Справочник.- ММ93.- 576 с.

Дополнительная

1. Гутников В.С. Интегральная электроника в измерительных устройствах - Л.: Энергоатомиздат,1988

2. Глудкин О.П., Черняев В.Н. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. – М.: Энергия, 1980

3. Мозгалевский А.В., Калявин В.П., Костанди Г.Г. Диагностирование электронных систем/ Под ред. А.В. Мозгалевского. -- Л.: Судостроение, 1984

4. Буртаев Ю.Ф. и др. Статистический анализ надежности объектов по ограниченной информации.- ЭА95.- 240 с.

5. СЕРТИФИКАЦИЯ/ В.Г. Гавриленко, Н.И. Ядевич. «Юридический справочник», приложение к журналу «Право и экономика» — Мн, 1999.-112 с.

6. Разевиг В.Д. Система схемотехнического моделирования Micro-Cap V. - М.: СОЛОН, 1997.—280с.

7. М.Т. Ма, М. Канда, М.Л. Крофорд, Э.Б. Ларсен. Обзор методов измерений для оценки электромагнитной совместимости и электромагнитных помех. ТИИЭР, т. 73, №3, 1985, - с.5-32

8. Разработка и оформление конструкторской документации РЭА. / Спр. - Под ред. Э.Т. Романичевой. - М.: Радио и связь, 1989.- 448 с.

9. Макино Т. и др. Контроль качества с помощью персональных компьютеров. – М.: Машиностроение, 1991. – 224с.

10. Аронов И.З., Бурдасов Е.И. Оценка надежности по результатам сокращенных испытаний.- СТ87.- 184 с.

11. Буртаев Ю.Ф. и др. Статистический анализ надежности объектов по ограниченной информации.- ЭА95.- 240 с.

12. Фомин Я.А., Безродный Б.Ф. Адаптивные системы контроля изделий микроэлектроники на ПЭВМ.- СТ93.- 204 с.

13. . Исикава Каору. Японские методы управления качеством. М: Экономика, 1988.