Схема влияния объектно-эксплуатационных факторов.

Рис.15. Схема влияния объектно-эксплуатационных факторов

Составляется априорная схема эксплуатации объекта (обобщенная схема априорного анализа).

X_i - факторы, контролируемые, измеряемые, коррелируемые, некоррелируемые (корреляция - это взаимосвязь).

X_{i ш} - неконтролируемые и неизмеряемые факторы. Погрешность от шумовых воздействий в среднем в 10 раз меньше, чем погрешность от основных факторов.

Для выбора основных факторов воздействия из всего перечня существует два метода:

- метод априорного ранжирования,

- метод случайного баланса.

По результатам отбора факторов проектируют испытательные стенды (климатическая камера - температура, влажность, давление).

Результаты блока априорного анализа

Рис.16. Схема объекта

В априорной моделе будут записаны: X_i, ∆ X_i, X_iн, X_iв, X_i0.

Таким образом, в результате априорного анализа получаем:

- описание объекта;

- описание выходных параметров;

- описание существенных воздействий.

Имеем описание Y_j, характер изменения Y_j, DY_j, Y_jн Y_jв (для подбора прибора).

Постановка задачи

1. Уточнение цели исследования. Здесь может иметь место выявление дополнительных существенных факторов, новые условия эксплуатации и т.д. Таким образом конечной целью является: математическая модель процесса или объекта; технологический процесс; конструктивно-технологические рекомендации к объекту или процессу.

2. Определение конкретных задач (задачи - это действия, описанные в обобщенной схеме):

- конструктивно - технологическое оснащение исследований;

- выбор модели;

- планирование экспериментальных исследований;

- организация и проведение экспериментальных исследований,

- контроль;

- обработка данных;

- анализ и интерпретация;

- конструктивно - технологические рекомендации к объекту и процессу.

3.Определение перечня внешних воздействий и выходного параметра, их номиналов и допусков: Y_опт, У_зад, У_min. Y_max математическая модель, график.

БЛОК ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ОСНАЩЕНИЯ (БТО)

На выходе блока априорного анализа получена матрица X_i = │X₁, Х₂,..., Х_n│

Находим . После испытания получаем данные, которых в априоре не существует: