Методы исследования систем управления.
Для объектов наблюдения, представленных на рисунке, выбрать состав измерительных преобразователей, обеспечивающих свойство полной наблюдаемости объекта. Найти матрицы выходов.
Структурные схемы объектов наблюдения
Ответ:
Так как объект а) чиненный и не возмущенный, то для обеспечения его полной наблюдаемости достаточно измерительного преобразователя выходной переменной X1. Проверку свойства полной наблюдаемости можно выполнить, определив ранг матрицы наблюдаемости:
Нн=[СТCТАТСТ(АТ)2…..С(АТ)n-1].
Объект б) возмущенный, поэтому здесь необходимо минимум два измерительных преобразователя: переменной X1 и переменной Х2. Это связано с тем, что для возмущенных линейных объектов минимальное число измерительных преобразователей, обеспечивающих полную наблюдаемость объекта, равно числу компонентов вектора возмущений.
Матрица С для объекта а:
С=[100].
Матрица С для объекта б:
Методы исследования систем управления.
Без конкретного инженерного анализа невозможно оценить объективность реализуемой поставленной задачи. См.рис
Инженерный анализ обеспечивает: правильный выбор принципов построения СУ, определение структуры системы и выбор технических средств ее реализации; разработку технической документации ПО и т д. Знач.место в инженерном анализе занимает моделирование. Модель представляет собой систему, неотличимую от модели объекта в отношении некоторых свойств, полагаемых «существенными». Модель может быть как абстрактная, так и физическая. Физические подобные модели имеют ту же физическую
природу, что и оригинал. Математические подобные модели основываются на идентичности математического описания процессов в модели и оригинале. Выбор типа модели и ее построение является процессом творческим и исключительно важным. Модель должка отражать только основные черты процесса, быть чувствительной к характеристикам, определяющим ход процесса и при этом не быть чрезмерно сложным и загроможденным второстепенными для анализа подробностями. В лучших случаях приводится как математическое, так и физическое моделирование, что позволяет наиболее полно исследовать проектируемую СУ.
3. На испытания, было поставлено Nо=1000 однотипных полупроводниковых приборов. Через каждые 1000 ч работы учитывалось количество отказавших приборов. Испытание продолжалось до тех пор, пока не отказали все приборы. В таблице представлена выборка результатов испытаний полупроводниковых приборов на надежность.
Таблица
Δt, ч | n(Δt) | Δt, ч | n(Δt) |
0-1000 | 9000-10000 | ||
1000-2000 | 10000-11000 | ||
….. | ….. | …... | …… |
7000-8000 | 25000-26000 |
Используя данные таблицы, рассчитать:
Дата добавления: 2016-05-05; просмотров: 481;