Разные оптические системы ИСП-спектрометров
| Диспергирующий элемент | Функция | Примечание |
| Плоская дифракционная решётка | Монохроматор | Определение отдельных элементов и последовательное определение многих элементов |
| Вогнутая дифракционная решётка | Полихроматор | Одновременное определение сразу нескольких элементов |
| Решётка эшелле | Монохроматор и полихроматор | Одновременное и последовательное определение многих элементов |
Необходимо чётко разделять спектрометры одновременного и последовательного действия, различающиеся своим диспергирующим элементом (см. табл. 2). В случае приборов второго поколения речь идёт о комбинированных (одновременных + последовательных) устройствах новой концепции. Основой таких спектрометров является решётка эшелле, отличающаяся высоким качеством отображения, малым рассеянием, высоким спектральным разрешением и большой силой света.
Эмиссионные ИСП-спектрометры последовательного действия.
При определении отдельных элементов или последовательном многоэлементном определении используется в качестве диспергирующего элемента плоская дифракционная решётка. У монохроматора в минимуме отклонения света находится фиксированная выходная щель, через которую посредством поворота решётки проводятся разные длины волн. Для поворота решётки служит рукоятка вращения (при определении отдельного элемента) или управляемый компьютером шаговый двигатель (при автоматическом последовательном определении многих элементов).
Задачей монохроматора является выделение аналитической линии из имеющегося мешающего излучения. Если этого не происходит, измеряется не только излучение интересующего элемента, но и сумма всех падающих через выходную щель на приёмник составляющих излучения. Чтобы избежать подобных погрешностей, требуется монохроматор с максимально высоким разрешением. Поскольку повышенное разрешение возможно только при наличии щели небольшой геометрической ширины, то одновременно это будет означать также уменьшение поступающей на приёмник лучистой энергии.
Важнейшая функция спектрометра заключается в разделении специфичных для конкретных элементов линий излучения. Это сложная задача, поскольку в результате высоких температур плазменного возбуждения возбуждаются спектры, очень богатые линиями. Это обстоятельство обусловливает влияние многочисленных помех на интересующих для анализа линиях других элементов. Так, на самую чувствительную для обнаружения спектральную линию кобальта при 238,892 нм воздействует интенсивная линия железа при 238,863 нм (см. табл. 3).
Таблица 3
Дата добавления: 2016-04-11; просмотров: 1024;