Показатели качества реальных микро- и нанотехнологий

Ввиду сложности определения параметра Ni прямыми теоретическими (конструктором изделия) и экспериментальными методами, проведем его оценку на основе использования традиционных производственных показателей. Из всей совокупности последних, в качестве параметра, определяющего взаимосвязь между параметрами Ht и Hi, уместно рассматривать вероятность выхода годных изделий. Представляется очевидным, что, в первом приближении, вероятность выхода годных изделий P зависит от соотношения между избирательностью технологии at и избирательностью ai , заложенной конструктором изделия для безусловного (P=1) достижения функционального качества устройства (на практике, как правило, выполняется условие: a t < a i ):

  . (8)

С учетом выражения (4) и (8) для необходимой энтропии единичного размещения hi, при условии ai >> 1 (что имеет место для случаев микро- и нанотехнологий), имеем:

  (9)

В таблице 3 представлены значения параметров ai и hi, в зависимости от уровня технологии и вероятности выхода годных устройств, при значении параметра m=100.

Таблица 3.

Зависимость избирательности и энтропии единичного размещения hi от уровня технологии и вероятности выхода годных устройств (при m=100).

№   Уровень технологии Пока- затель Вероятность выхода годных устройств
10-3 10-2 10-1 0,5 1,0
  Перспективный (нано-: a t = 1010) hi 1,5 10-12 1,4 10-11 1,3 10-10 6,2 10-10 1,2 10-9
ai 1013 1012 1011 2 . 1010 1010
Высокий (микро-: a t = 108) hi 1,3 10-10 1,2 10-9 1,1 10-8 5,2 10-8 10-7
ai 1011 1010 109 2 10-8 10-8

Согласно данным таблицы 3.8 следует, что достижение приемлемой в промышленной практике эффективности производства (Р > 0,1) возможно для изделий с показателями ai< 1011 и 109, соответственно для перспективного и высокого уровней технологии.

В таблице 4 представлены значения Ni в зависимости от объема и вероятности выхода годных устройств, полученные на основании данных табл. 3.

Таблица 4

Зависимость количества реализаций Ni от физического объема и вероятности выхода годных устройств (при m= 100).

Уровень технологии Объем мкм3 Вероятность выхода годных устройств
10-3 10-2 10-1 0,5 1,0
Перспективный (нанотехнологии: a t = 1010) (14) (130) (620) (103 )
10-3 1,00 1,03 1,34 4,23 15,8
10-6 1,00 1,00 1,00 1,00 1,00
Высокий (микротехнологии: a t = 108) (130) (103 ) (104 ) (5 .104 ) (105 )
10-3 1,34 15,8 (11) (52) (102 )
10-6 1,00 1,00 1,02 1,12 1,26

Примечание: запись вида (14) означает, что lgNi = 14.

Наличие в таблице 3.9 значений Ni близких единице свидетельствует о том, что для данных позиций конструктором закладывается, а технологу необходимо реализовать (при приемлемой вероятности выхода годных изделий) практически вырожденные конструкции, которым соответствуют единичные реализация размещения атомов. В то же время следует отметить, что для современных устройств (V > 1 мкм3) количество реализаций Ni при P > 0,1достигает значений Ni >10130.

В свете вышеизложенного, весьма важным моментом является установление взаимосвязи между сложностью изделий (закладываемой конструктором на этапе проектирования) и возможностью их практической реализации технологом. Указанная взаимосвязь может быть установлена на основании выражений (7) ,(8) и (9) в виде:

  (10)

Последнее выражение устанавливает эффективность согласования конструкторских решений (параметр - С) с технологическими возможностями изготовления (параметр - К) устройств, для типичных производственных ситуаций, удовлетворяющих условию: (Это условие позволяет обеспечить нормировку параметра P в виде: 0 < P< 1. При выполнении условия ,имеет место тривиальный результат: P = 1!).








Дата добавления: 2016-01-03; просмотров: 521;


Поиск по сайту:

При помощи поиска вы сможете найти нужную вам информацию.

Поделитесь с друзьями:

Если вам перенёс пользу информационный материал, или помог в учебе – поделитесь этим сайтом с друзьями и знакомыми.
helpiks.org - Хелпикс.Орг - 2014-2024 год. Материал сайта представляется для ознакомительного и учебного использования. | Поддержка
Генерация страницы за: 0.004 сек.