МИКРОСКОПА МИМ-10. ПРИГОТОВЛЕНИЕ МИКРОШЛИФОВ

ИЗУЧЕНИЕ УСТРОЙСТВА МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКОГО

Лабораторная работа № 1 предусматривает два занятия. Первое посвящено изучению устройства и настройки металлографического микроскопа, второе – подготовке металлических образцов для исследования их микроструктуры, заключающееся в приготовлении микрошлифов. В течение двух занятий студенты оформляют отчет по установленному содержанию и требованиям и защищают его перед преподавателем.

Цель работы:

1. Изучить устройства микроскопа и приобрести навыки работы на нем.

2. Освоить методику исследования микроструктуры металлов и сплавов при помощи микроскопа.

3. Освоить методику изготовления различных образцов металлов и сплавов для микроскопического исследования при помощи светового микроскопа.

Приборы, материалы, инструменты:

1) микроскоп МИМ-10;

2) станок полировальный;

3) стекло;

4) металлографическая бумага;

5) реактивы для травления;

6) образцы шлифов.

Существует два способа микроскопического исследования: в проходящем свете и в отраженном свете.

Микроскопы, рассматривающие предметы в проходящем свете, называют биологическими. Их применяют в таких областях науки как медицина, биология, где исследуемые предметы прозрачные.

Микроскопы, рассматривающие предметы в отраженном свете, называются металлографическими. Они используются при изучении структуры металлов и сплавов, т.е. непрозрачных предметов.

Общее увеличение, которое дает микроскоп с помощью объектива и окуляра, можно принять равным произведению их увеличений.

Обычно окуляры увеличивают от 2 до 15 раз, а компенсационные – до 25 раз, тогда как увеличение объективов часто бывает от 9 до 99 раз. Максимальное (полезное) увеличение микроскопа зависит от разрешающей способности глаза и микроскопа. Оно определяется по формуле:

раз,

где

d₁ – максимальная разрешающая способность человеческого глаза, равная 0,3мм;

d₂ – максимальная разрешающая способность оптического микроскопа, равная 0,00015 мм.

Еще большие увеличения получают, пользуясь электронными микроскопами, разрешающая способность которых зависит от длины волны электронов.