Оптичні методи

Найбільше поширеним оптичним методом дослідження поверхні є звичайна оптична мікроскопія полірованих металевих поверхонь. За допомогою металографічних мікроскопів роблять металографічний аналіз поверхонь для визначення фазового складу, кількісного вмісту фаз, форми і розмірів структурних складових. За допомогою оптичної мікроскопії із використанням травлення визначають також щільність дислокацій, мікротопографію поверхні, розміри і форму часток зносу. Для металографічного аналізу використовуються мікроскопи МИМ-7, МИМ-8, які випускаються серійно. До оптичних методів аналізу поверхні відносять також еліпсометрія. Эліпсометрія є одним із достатньо надійних методів визначення товщини тонких плівок (одиниці, десятки і сотні ангстрем). Метод заснований на тому, що плоскополяризоване монохроматичне світло, відбите від металевої поверхні, стає эліптично поляризованим. Це відбувається внаслідок того, що складові коливань, паралельні і перпендикулярні площини падіння, отримують зсув фаз. Визначаючи амплітуди і фази цих двох складових для чистої поверхні і для поверхні, покритою плівкою, можна визначати товщину останньої. Метод достатньо складний і не має стандартного апаратурного оформлення.