Пробої транзистора

1 Тепловий пробій. При порушенні теплового балансу, коли внаслідок недостатнього тепловідведення приріст потужності, що підводиться до КП, не компенсується відповідним приростом потужності, яка відводиться, в БТ відбувається тепловий пробій. Він супроводжується необ­меженим зростанням температури переходу, збільшенням колекторного струму і потужності, що підводиться, і, як наслідок, перегрівом приладу і його псуванням.

Величину напруги, яка не приводить до теплового пробою БТ, визначають за формулою:

, (3.44)

де - максимально допустима температура КП;

- температура навколишнього середовища;

- тепловий опір тепловідведення (корпусу, радіатора тощо).

Таким чином, допустима напруга тим менша, чим більші струм , тепловий опір і температура навко­лишнього середовища. При незадовільному тепловідведенні і високій температурі середовища напруга теплового пробою може стати меншою за робочу напругу транзистора. Особливо небезпечним є тепловий пробій для потужних БТ, які мають значний зворотний струм колектора .

2 Електричний пробій. Оскільки переходи БТ взаємодіють між собою, то величина пробивної напруги залежить від схеми ввімкнення приладу та від режиму його використання. Зупинимося на прикладі схеми зі спільним емітером.

а) б) в)

Рисунок 3.32 – До пояснення впливу режиму роботи БТ на величину пробивної напруги: а) ; б) в)

Нехай маємо БТ у ССЕ з розімкненим емітерним колом ( ) (рис. 3.32 а).

Зауважимо, що цей приклад цілком аналогічний до схеми зі спільною базою при . Коефіцієнт множення колекторного струму у БТ при

, (3.45)

де (2 – 6) залежно від матеріалу виготовлення БТ та виду - переходу.

Лавинний пробій КП відбувається при наближенні напруги до значення . При цьому різко зрос­тають коефіцієнт передачі струму емітера ( ) і колекторний струм, як показано на рисунку 3.33 (крива ).

Рисунок 3.33 – Залежність пробивної напруги від режиму роботи БТ

Якщо тепер розірвати лише базове коло (рис. 3.32 б), тобто , то колекторний струм дорівнюватиме

. (3.46)

У випадку лавинного пробою формула (3.46) набирає вигляду

. (3.47)

При цьому знаменник правої частини , струм колектора (крива на рисунку 3.33). Враховуючи цю умову і вираз (3.45), можна одержати формулу для визначення пробивної напруги колектор – емітер при :

. (3.48)

Отже, . Пробивна напруга в ССЕ при в 2 - 3 рази менша, ніж пробивна напруга в ССБ при .

3 Вплив опору у колі бази. Пробивна напруга БТ залежить від величини опору , увімкненого в базове коло. Цей опір (рис. 3.32 б) зумовлює позитивний зворотний зв’язок між виходом і входом транзистора: зростання колекторного струму в граничному режимі (при ) приводить до збільшення прямої напруги на ЕП, що, у свою чергу, приводить до подальшого зростання , нового збільшення і т.д. Внаслідок цього транзистор втрачає стійкість і пробивається (крива на рисунку 3.33).

Чим більший , тим сильніший позитивний зворотний зв’язок. Найгіршим є випадок розриву кола бази ( ), коли пробивна напруга стає мінімальною (рис. 3.33). Саме з цієї причини звичайно забороняється застосовувати транзистори у режимі розімкненого базового кола. Особливо недопустимим є такий режим для потужних БТ, які в цьому випадку пробиваються при малих .

Найбільш стійким є режим при . Однак через вплив розподіленого опору бази навіть при пробивна напруга залишається меншою, ніж при вимкненому емітері (крива на рисунку 3.33).

Слід зауважити, що вмикання опору до емітерного кола сприяє збільшенню пробивної напруги, бо таке ввімкнення забезпечує появу негативного зворотного зв’язку, який певною мірою компенсує дію опору .

4 Вторинний пробій. При значному колекторному струмі, особливо в імпульсному режимі, в БТ може виникнути вторинний пробій, який супроводжується різким зменшенням напруги колектора при одночасному збільшенні колекторного струму, і на вихідній характе­ристиці з’являється ділянка з негативним диференціальним опором (пунктирна крива на рисунку 3.33). Колекторний струм, при якому виникає вторинний пробій, зменшується зі збільшенням зворотної напруги . Можливість виник­нення вторинного пробою залежить від опору навантаження БТ, а також від напруги живлення .

Розвиток вторинного пробою суттєво визначається локальними неоднорідностями транзисторної структури, які зумовлюють нерівномірний розподіл густини струму, місцевий нагрів, а потім і перегрів структури, що супроводжується проплавлянням бази.

5 Пробій змикання – це пробій, зумовлений змиканням ЕП та КП. Розширення КП у бік бази внаслідок того, що концентрація домішок у базі нижча, ніж у колекторі, може привести до того, що при певній напрузі змикання КП заповнить собою всю базову область і з’єднається з ЕП. Транзистор при цьому втрачає свої підсилювальні властивості. Цей ефект має значення для БТ з дуже вузькою базою, у яких напруга змикання невелика і відповідає граничній допустимій напрузі колектора.