Методы морфологического анализа

Под морфологией понимают внешнее строение объекта, а так­же форму, размеры и взаимное расположение (топографию) обра­зующих его структурных элементов (частей целого, включений, деформаций, дефектов и т. п.) на поверхности и в объеме, возни­кающих при изготовлении, существовании и взаимодействии объ­екта в расследуемом событии. Наиболее распространенными ме­тодами морфологического анализа являются методыопти­ческой микроскопии — совокупность методов наблю­дения и исследования с помощью оптического микроскопа:

• Ультрафиолетовая и инфракрасная микроскопия позволяет проводить исследования за пределами видимой области спектра. Ультрафиолетовая микроскопия (250—400 нм) применяется для исследования биологических объектов (например, следы крови, спермы), инфракрасная микро­скопия (0,75—1,2 мкм) дает возможность изучать внутрен­нюю структуру объектов, непрозрачных в видимом свете (кристаллы; минералы; некоторые виды стекла; следы вы­стрела; залитые, заклеенные тексты).

• Стереоскопическая микроскопия позволяет видеть предмет объемным. Применяется для исследования практически всех видов объектов (следы человека и животных, докумен­ты, лакокрасочные покрытия, металлы и сплавы, волокна, минералы, пули и гильзы и т.д.). С помощью двух окуляров создают объемное изображение. Микроскопы, как правило, снабжены насадкой для фотографирования.

• Сравнительные микроскопы (типа МИС, МС, МСК) име­ют спаренную оптическую систему, что позволяет произво­дить одновременное исследование двух объектов. Микро­скопы специальные криминалистические типа МСК по­зволяют наблюдать изображение не только с помощью окуляра, но и на специальном экране. Современные срав­нительные микроскопы, оснащенные 'телекамерами и управляемые персональными компьютерами, позволяют получать комбинированное изображение сравниваемых объектов на телеэкране (телевизионная микроскопия), ис­следовать объекты в поляризованном свете, со светофильт­рами, в инфракрасных или ультрафиолетовых лучах, дают возможность чисто электронным путем изменять масштаб контрастность и яркость изображения.

• Просвечивающая электронная микроскопия основана на рассея­нии электронов без изменения энергии при прохождении их через вещество или материал. Просвечивающий электронный микроскоп используют для изучения деталей микроструктуры объектов, находящихся за пределами разрешающей способно­сти оптического микроскопа (мельче 0,1 мкм). Позволяет ис­следовать объекты — вещественные доказательства в виде тонких срезов (например, волокон или лакокрасочных покры­тий для исследования особенностей морфологии их поверхно­сти); суспензий, например, горюче-смазочных материалов. Микроскопы просвечивающего типа имеют разрешающую способность порядка 10^-8см.

• Растровая электронная микроскопия (РЭМ), получившая широкое распространение в экспертных исследованиях, основана на облучении изучаемого объекта хорошо сфоку­сированным с помощью специальной линзовой системы электронным пучком предельно малого сечения (зонд), обеспечивающим достаточно большую интенсивность от­ветного сигнала (вторичных электронов) от того участка объекта, на который попадает пучок. Разного рода сигналы представляют информацию об особенностях соответствую­щего участка объекта. Размер участка определяется сечени­ем зонда (10^-8 ¸ 10^{-7 см). Чтобы получить информацию о достаточно большой области, дающей представление о морфологии объекта, зонд заставляют обегать («сканиро­вать» от англ.} scanning — обегание) заданную площадь по определенной программе. РЭМ позволяет повысить глуби­ну резкости почти в 300 раз по сравнению с обычным оп­тическим микроскопом и достигать увеличения до 200 000^х. Широко используется в экспертной практике для микро-трасологических исследований, изучения морфологических признаков самых разнообразных микрочастиц (металлов, лакокрасочных покрытий, волос, волокон, почвы, минера­лов). Многие растровые электронные микроскопы снабже­ны так называемыми микрозондами — приставками, по­зволяющими проводить рентгеноспектральный анализ эле­ментного состава изучаемой микрочастицы.