Указания к выполнению работы. 1. Собрать и отладить установку (рис

1. Собрать и отладить установку (рис. 4).

Рис. 4. Схема установки для исследования спектральных характеристик интерференционного светофильтра

1 – стабилизатор напряжения. 2 – трансформатор. 3 – источник сплошного спектра (лампа К – 10). 4 – конденсор. 5 – поляризатор. 6 – интерференционный светофильтр. 7 – угломерное устройство. 8 – конденсор. 9 – монохроматор. 10 – фотоприемник. 11 – регистрирующее устройство.

2. При выполнении п.1 задания для определения положения максимумов и ширин их полос пропускания необходимо ввести ИФ в ход лучей. Медленно вращая барабан механизма разворота диспергирующей системы монохроматора, находим длины волн, при которой пропуска­ниеИФ имеет максимальное значение, чем и определяется λ_макс в спектре пропускания. Ширина полос пропускания определяется как раз­ность длин волн, при которых отсчеты по шкале гальвано­метра пропорциональные прошедшему потоку, в два раза меньше отсчета, пропорционального максимальному прошед­шему потоку.

3. Для нахождения спектрального коэффициента пропускания фильтра необходимо последовательно измерить падающий и прошедший через ИФ потоки в указанном диапазоне длин волн. Для установки требуемой длины волны необходимо воспользоваться таблицей градуировки монохроматора.

4. При измерении падающего потока излучения размеры входной и выходной щелей монохроматора должны быть одинаковыми. В интервале длин волн 410—850 нм ширина щелей берется такой величины, чтобы от­счет по шкале отсчетного устройства, пропорциональный падающему потоку, был не менее 100 делений.

5. Для выяснения характера расщепления длинноволнового максимума в поляризованном свете надеть на оправу конденсора 4 поляроид для видимой области спектра, закрепить на угломерном устройстве черное стекло (n_D =1,52) и по углу Брюстера выставить плоскости поляризации поляроида. Это контролируется по минимуму отражения света от черного стекла при повороте поляроида.

6. Определить погрешность измерения Т_max и Т_min при i₁=0°.