Нульмерные (точечные) дефекты

К точечным дефектам относят:

- твердые растворы замещения, внедрения;

- дефекты по Шотки и Френкелю.

Дефекты по Шотки и Френкелю относятся к тепловым равновесным дефектам.

Атом или ион может переместиться из узла решетки, оставляя там вакансию, в междоузлие, удаленное от узла на некоторое расстояние. Пара вакансия-междоузельный атом (ион) называется дефектом по Френкелю. Если атом (ион) уходит за пределы решетки на поверхность кристалла, достраивая ее, то в решетке остаются только вакансии. Такой вид дефектов в виде незанятых (вакантных) узлов решетки называется дефектом по Шоттки.

Рисунок 13.1 – Дефекты по Френкелю (а) и по Шоттки (б)

Основная причина образования этих дефектов – тепловые колебания атомов, причем каждой температуре соответствует их определенная равновесная концентрация в кристалле.

Присутствие в кристалле точечных дефектов и способность их к миграции обуславливают ионную (электрическую) проводимость и процессы массопереноса (диффузии) в кристаллической решетке (в бездефектном идеальном кристалле процесс массопереноса практически невозможен).

В связи с этим, присутствие точечных дефектов сильно ускоряет такие важные в технологии силикатов процессы, как твердофазные реакции, спекание, рекристаллизация и т.д., скорость, которых определяется скоростью диффузии материальных частиц.

Образование дефектов по Шоттки приводит к росту объема кристалла (кристалл «распухает» за счет достраивания поверхности атомами, удаляющимися из узлов решетки) и понижению его плотности.

Точечные дефекты также возникают при облучении кристалла потоком частиц высоких энергий (в ядерных реакторах или космосе). Они выбивают атомы из положения равновесия и создают множество нарушений в структуре. Известно «распухание» урановых или графитовых стержней в ядерных реакторах (увеличение объема на 30%).