Рентгеновский дифрактометр

 

Рентгеновский дифрактометр, прибор для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Рентгеновский дифрактометр применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа. Он позволяет измерять интенсивности дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до 10-х долей процента и углы дифракции с точностью до 10-х долей минуты. С помощью рентгеновского дифрактометра можно производить фазовый анализ поликристаллических объектов и исследование текстур, ориентировку монокристальных блоков, получать полный набор интенсивностей отражений от монокристалла, исследовать структуру многих веществ при различных внешних условиях и т.д.

Рентгеновский дифрактометр состоит из источника рентгеновского излучения, рентгеновского гониометра, в который помешают исследуемый образец, детектора излучения и электронного измерительно0-регистрирующего устройства. Детектором в рентгеновском дифрактометре служит не фотопленка, как в рентгеновской камере, а счетчики квантов (сцинтилляционные, пропорциональные, полупроводниковые счетчики или Гейгера – Мюллера счетчики). Дифракционную картину образца в рентгеновском дифрактометре получают последовательно: счетчик перемещается в процессе измерерния и регистрирует попавшую в него энергию излучения за определенный интервал времени. По сравнению с рентгеновскими камерами рентгеновский дифрактометр обладает более высокой точностью, чувствительностью, большей экспрессностью. Процесс получения информации в рентгеновский дифрактометр может быть полностью автоматизирован, поскольку в нём отсутствует необходимость проявления фотопленки, причём в автоматическом рентгеновском дифрактометре прибором управляют ЭВМ, полученные данные поступают на обработку в ЭВМ. Универсальные рентгеновские дифрактометры можно использовать для различных рентгеноструктурных исследований, заменяя приставки к гониометрическому устройству. В больших лабораториях применяются специализированные дифрактометры, предназначенные для решения какой-либо одной задачи рентгеноструктурного анализа.

 

3.7. Рентгенофлуоресцентный кристаллдифракционный сканирующий вакуумный «Спектроскан-V»

Рис. 3.7.1

Назначение и область применения:

Вакуумный рентгено-флуоресцентный спектрометр для оснащения лабораторий предприятий черной, цветной и порошковой металлургии, химической и цементной промышленности, геологии и горной промышленности, машиностроения, и других, где требуется количественный анализ элементного состава материалов на разных стадиях производства.

Комплектация:

Дополнительно поставляются:

Программное обеспечение

Аттестованные методики выполнения измерений

Автоматический концентратор для подготовки водных проб

Портативная мельница для истирания порошковых проб

IВМ-совместимый персональный компьютер с принтером

Устройство бесперебойного питания для спектрометра и компьютера

 

 

Аналитические характеристикиТаблица 3.7.1

Диапазон определяемых элементов от 11Na до 92U
Тип анализируемых образцов Твердые, жидкие, порошкообразные, фильтры, пленки
Пределы обнаружения в борной кислоте за 100с, L Nа – 5х10-2%, Mg, Al – 8х10-3%, Si – 1х10-3%, Р – 5х10-4%, Ti, V, Cr – 1х10-4%, Со, Ni – 5х10-5%, Cd, Pb – 5х10-4%
Диапазон определяемых содержаний От 3L до 100%
Минимальные определяемые концентрации за 100с: Без обогащения пробы С предварительным типовым обогащением     0,00003-0,01% до 0,0000003% (3 мкг\л)
Время одного элементоопределения 1-100с
Собственная аппаратурная погрешность 0,5%
Способ выделения линий спектра Дифракция на кристалле
Рентгенооптическая схема По Иогансону
Энергетическое разрешение 9 эВ (Si Kα), 60 эВ (Fe Кα)

 

 

Технические характеристикиТаблица 3.7.2

Напряжение на аноде рентгеновской трубки 50 кВ
Кристалл-анализатор LiF(200), LiF(220), РЕТ, PbАР, МИС(44Е)
Пробозагрузочное устройство Автоматическое на 20 проб
Интерфейс с ЭВМ RS-232
Габаритные размеры и масса:  
Спектрометрическое устройство 550х450х450мм; 70кг
Высоковольтный источник питания 240х440х450мм; 30кг
Вакуумный насос 130х200х320мм; 15кг
Потребляемая мощность от сети 220 В 850 Вт

 

3.8. Спектрометр рентгенофлуоресцентный кристалл-дифракционный сканирующий портативный «Спектроскан»

Рис. 3.8.1. Общий вид портативного прибора

 

Спектрометр предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры.

Спектрометр может применяться в различных отраслях народного хозяйства для анализа элементного состава вещества, а также для экологического контроля окружающей среды.

Аналитические характеристикиТаблица 3.8.1

Диапазон определяемых элементов от 20Сa до 94Рu
Пределы обнаружения, L От 1 до 20 ррm (для Са и элементов от 42Мо до 54Sb порядка 500 ррm)
Диапазон определяемых содержаний От 3L до 100%
Способ выделения линий спектра Дифракция на кристалле
Рентгенооптическая схема По Иогансону
Энергетическое разрешение на линии Fe Кα 14-20 миллиангстрем (45-65эВ)

 

Комплектация:

Дополнительно могут поставляться:

Программное обеспечение

Аттестованные методики выполнения измерений

Автоматический концентратор для подготовки водных проб

Портативная мельница для истирания порошковых проб

IВМ-совместимый персональный компьютер с принтером

Устройство бесперебойного питания для спектрометра и компьютера

 

Технические характеристики Таблица 3.8.2

Напряжение на аноде рентгеновской трубки 40 кВ
Мощность рентгеновской трубки 4 Вт
Мастериал анода рентгеновской трубки Мо (Ag, Cu)
Кристалл  
Радиационная безопасность Нет превышения мощности экспозиционной дозы над фоном
Интерфейс с ЭВМ RS-232
Габаритные размеры и масса 220х400х460мм; 24кг
Потребляемая мощность 220 В Не более 100 Вт

 

 

3.9. Спектрометр рентгенофлуоресцентный кристалл-дифракционный сканирующий портативный «Спектроскан-LF»

Спектрометр предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры.

Спектрометр может применяться в различных отраслях народного хозяйства для анализа элементного состава вещества, а также для экологического контроля окружающей среды.

 

Аналитические характеристики Таблица 3.9.1

Диапазон определяемых элементов от 20Сa до 94Рu любые два элемента в диапазоне от 12Mg до 19К
Пределы обнаружения, L От 1 до 20 ррm, (для Са и элементов от 42Мо до 51Sb порядка 500 ррm)
Диапазон определяемых содержаний От 3L до 100%
Способ выделения линий спектра Дифракция на кристалле; для легких элементов – пропорциональные счетчики с селективными рентгеновскими фильтрами
Рентгенооптическая схема По Иогансону
Энергетическое разрешение на линии Fe Кα 14-20 миллиангстрем (45-65эВ)

 

Комплектация:

Дополнительно могут поставляться:

Программное обеспечение

Аттестованные методики выполнения измерений

Автоматический концентратор для подготовки водных проб

Портативная мельница для истирания порошковых проб

IВМ-совместимый персональный компьютер с принтером

Устройство бесперебойного питания для спектрометра и компьютера

 

 

Технические характеристикиТаблица 3.9.2

Напряжение на аноде рентгеновской трубки 40 кВ
Мощность рентгеновской трубки 4 Вт
Мастериал анода рентгеновской трубки Мо (Ag, Cu)
Кристалл  
Радиационная безопасность Нет превышения мощности экспозиционной дозы над фоном
Интерфейс с ЭВМ RS-232
Габаритные размеры и масса:  
Блок сканирования 210х390х430мм; 18кг
Пульт управления 260х130х330мм; 6кг
Потребляемая мощность 220 В Не более 100 Вт

 

 








Дата добавления: 2015-06-10; просмотров: 2232;


Поиск по сайту:

При помощи поиска вы сможете найти нужную вам информацию.

Поделитесь с друзьями:

Если вам перенёс пользу информационный материал, или помог в учебе – поделитесь этим сайтом с друзьями и знакомыми.
helpiks.org - Хелпикс.Орг - 2014-2024 год. Материал сайта представляется для ознакомительного и учебного использования. | Поддержка
Генерация страницы за: 0.012 сек.