Рентгеновский дифрактометр
Рентгеновский дифрактометр, прибор для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Рентгеновский дифрактометр применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа. Он позволяет измерять интенсивности дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до 10-х долей процента и углы дифракции с точностью до 10-х долей минуты. С помощью рентгеновского дифрактометра можно производить фазовый анализ поликристаллических объектов и исследование текстур, ориентировку монокристальных блоков, получать полный набор интенсивностей отражений от монокристалла, исследовать структуру многих веществ при различных внешних условиях и т.д.
Рентгеновский дифрактометр состоит из источника рентгеновского излучения, рентгеновского гониометра, в который помешают исследуемый образец, детектора излучения и электронного измерительно0-регистрирующего устройства. Детектором в рентгеновском дифрактометре служит не фотопленка, как в рентгеновской камере, а счетчики квантов (сцинтилляционные, пропорциональные, полупроводниковые счетчики или Гейгера – Мюллера счетчики). Дифракционную картину образца в рентгеновском дифрактометре получают последовательно: счетчик перемещается в процессе измерерния и регистрирует попавшую в него энергию излучения за определенный интервал времени. По сравнению с рентгеновскими камерами рентгеновский дифрактометр обладает более высокой точностью, чувствительностью, большей экспрессностью. Процесс получения информации в рентгеновский дифрактометр может быть полностью автоматизирован, поскольку в нём отсутствует необходимость проявления фотопленки, причём в автоматическом рентгеновском дифрактометре прибором управляют ЭВМ, полученные данные поступают на обработку в ЭВМ. Универсальные рентгеновские дифрактометры можно использовать для различных рентгеноструктурных исследований, заменяя приставки к гониометрическому устройству. В больших лабораториях применяются специализированные дифрактометры, предназначенные для решения какой-либо одной задачи рентгеноструктурного анализа.
3.7. Рентгенофлуоресцентный кристаллдифракционный сканирующий вакуумный «Спектроскан-V»
Рис. 3.7.1
Назначение и область применения:
Вакуумный рентгено-флуоресцентный спектрометр для оснащения лабораторий предприятий черной, цветной и порошковой металлургии, химической и цементной промышленности, геологии и горной промышленности, машиностроения, и других, где требуется количественный анализ элементного состава материалов на разных стадиях производства.
Комплектация:
Дополнительно поставляются:
Программное обеспечение
Аттестованные методики выполнения измерений
Автоматический концентратор для подготовки водных проб
Портативная мельница для истирания порошковых проб
IВМ-совместимый персональный компьютер с принтером
Устройство бесперебойного питания для спектрометра и компьютера
Аналитические характеристикиТаблица 3.7.1
Диапазон определяемых элементов | от 11Na до 92U |
Тип анализируемых образцов | Твердые, жидкие, порошкообразные, фильтры, пленки |
Пределы обнаружения в борной кислоте за 100с, L | Nа – 5х10-2%, Mg, Al – 8х10-3%, Si – 1х10-3%, Р – 5х10-4%, Ti, V, Cr – 1х10-4%, Со, Ni – 5х10-5%, Cd, Pb – 5х10-4% |
Диапазон определяемых содержаний | От 3L до 100% |
Минимальные определяемые концентрации за 100с: Без обогащения пробы С предварительным типовым обогащением | 0,00003-0,01% до 0,0000003% (3 мкг\л) |
Время одного элементоопределения | 1-100с |
Собственная аппаратурная погрешность | 0,5% |
Способ выделения линий спектра | Дифракция на кристалле |
Рентгенооптическая схема | По Иогансону |
Энергетическое разрешение | 9 эВ (Si Kα), 60 эВ (Fe Кα) |
Технические характеристикиТаблица 3.7.2
Напряжение на аноде рентгеновской трубки | 50 кВ |
Кристалл-анализатор | LiF(200), LiF(220), РЕТ, PbАР, МИС(44Е) |
Пробозагрузочное устройство | Автоматическое на 20 проб |
Интерфейс с ЭВМ | RS-232 |
Габаритные размеры и масса: | |
Спектрометрическое устройство | 550х450х450мм; 70кг |
Высоковольтный источник питания | 240х440х450мм; 30кг |
Вакуумный насос | 130х200х320мм; 15кг |
Потребляемая мощность от сети 220 В | 850 Вт |
3.8. Спектрометр рентгенофлуоресцентный кристалл-дифракционный сканирующий портативный «Спектроскан»
Рис. 3.8.1. Общий вид портативного прибора
Спектрометр предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры.
Спектрометр может применяться в различных отраслях народного хозяйства для анализа элементного состава вещества, а также для экологического контроля окружающей среды.
Аналитические характеристикиТаблица 3.8.1
Диапазон определяемых элементов | от 20Сa до 94Рu |
Пределы обнаружения, L | От 1 до 20 ррm (для Са и элементов от 42Мо до 54Sb порядка 500 ррm) |
Диапазон определяемых содержаний | От 3L до 100% |
Способ выделения линий спектра | Дифракция на кристалле |
Рентгенооптическая схема | По Иогансону |
Энергетическое разрешение на линии Fe Кα | 14-20 миллиангстрем (45-65эВ) |
Комплектация:
Дополнительно могут поставляться:
Программное обеспечение
Аттестованные методики выполнения измерений
Автоматический концентратор для подготовки водных проб
Портативная мельница для истирания порошковых проб
IВМ-совместимый персональный компьютер с принтером
Устройство бесперебойного питания для спектрометра и компьютера
Технические характеристики Таблица 3.8.2
Напряжение на аноде рентгеновской трубки | 40 кВ |
Мощность рентгеновской трубки | 4 Вт |
Мастериал анода рентгеновской трубки | Мо (Ag, Cu) |
Кристалл | |
Радиационная безопасность | Нет превышения мощности экспозиционной дозы над фоном |
Интерфейс с ЭВМ | RS-232 |
Габаритные размеры и масса | 220х400х460мм; 24кг |
Потребляемая мощность 220 В | Не более 100 Вт |
3.9. Спектрометр рентгенофлуоресцентный кристалл-дифракционный сканирующий портативный «Спектроскан-LF»
Спектрометр предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры.
Спектрометр может применяться в различных отраслях народного хозяйства для анализа элементного состава вещества, а также для экологического контроля окружающей среды.
Аналитические характеристики Таблица 3.9.1
Диапазон определяемых элементов | от 20Сa до 94Рu любые два элемента в диапазоне от 12Mg до 19К |
Пределы обнаружения, L | От 1 до 20 ррm, (для Са и элементов от 42Мо до 51Sb порядка 500 ррm) |
Диапазон определяемых содержаний | От 3L до 100% |
Способ выделения линий спектра | Дифракция на кристалле; для легких элементов – пропорциональные счетчики с селективными рентгеновскими фильтрами |
Рентгенооптическая схема | По Иогансону |
Энергетическое разрешение на линии Fe Кα | 14-20 миллиангстрем (45-65эВ) |
Комплектация:
Дополнительно могут поставляться:
Программное обеспечение
Аттестованные методики выполнения измерений
Автоматический концентратор для подготовки водных проб
Портативная мельница для истирания порошковых проб
IВМ-совместимый персональный компьютер с принтером
Устройство бесперебойного питания для спектрометра и компьютера
Технические характеристикиТаблица 3.9.2
Напряжение на аноде рентгеновской трубки | 40 кВ |
Мощность рентгеновской трубки | 4 Вт |
Мастериал анода рентгеновской трубки | Мо (Ag, Cu) |
Кристалл | |
Радиационная безопасность | Нет превышения мощности экспозиционной дозы над фоном |
Интерфейс с ЭВМ | RS-232 |
Габаритные размеры и масса: | |
Блок сканирования | 210х390х430мм; 18кг |
Пульт управления | 260х130х330мм; 6кг |
Потребляемая мощность 220 В | Не более 100 Вт |
Дата добавления: 2015-06-10; просмотров: 2214;