Підготовка зразків для проведення випробування.
Під час підготовки виробів слід мати на увазі, що на випробувальній поверхні а також на опорній не повинно бути тріщин, грубих слідів обробки, подряпин, виїмок. Поверхня зразка має бути плоскою, гладкою і чистою; з поверхні має бути видалена окалина, зневуглецьований шар і тому подібне. При підготовці поверхні зразок піддають обробці на наждачному крузі і шліфувальній шкурі.
1.3.3 Вибір умов навантаження.
Навантаження вибирають залежно від товщини випробовуваного шару метала, яка має бути в 1,5 рази більше діагоналі відбитку.
На звороті зразка, після його випробування, не повинне виявлятися місце де додавалося навантаження. Відношення глибини відбитку до величини його діагоналі рівна 1: 7.
Якщо товщина випробовуваного шару невідома, рекомендується здійснити декілька випробувань при різних навантаженнях. Якщо основна маса (серцевина) зразка не впливає на результати вимірів, то числа твердості співпадуть.
2 Метрологічний розділ
2.1 Методика повірки вимірювального пристрою.
Повірка здійснюється за ГОСТ 8. 398-80, вибір методів та засобів повірки оформлюємо у вигляді таблиці.
Таблиця 8 – Вибір методів та засобів повірки
| Найменування операції повірки | Найменування засобів повірки та їх нормативно – технічні характеристики | Умови та методи повірки |
| Зовнішній огляд алмазного наконечника | Мікроскоп за ГОСТ 8074-82 | Зовнішній огляд алмазного наконечника проводять за допомогою мікроскопа у відбитому світлі. Для огляду робочої частини поверхні алмазу, прилеглої до його вершини, наконечник встановлюють вершиною вгору так, щоб вісь наконечника була продовженням оптичної осі мікроскопа. Мікроскоп фокусують спочатку на вершину алмазу, потім, повільно міняючи фокус, оглядають прилеглу до неї поверхню алмазу. Робоча частина наконечника не повинна мати рисок, тріщин, сколів і інших дефектів. |
Продовження таблиці 8
| Повірка оптичного вимірювального пристрою | Зразкова шкала 2-го розряду, об’єкт – мікрометр типу ОМО за ГОСТ 7513-75 | Похибку проекційного вимірювального пристрою, призначеного для виміру діагоналі відбитку розміром більше 0,2 мм, визначають за допомогою зразкової шкали. Зразкову шкалу поміщають на робочий стіл так, щоб зображення початкового штриха збіглося з початковим штрихом шкали екрану, відповідним міліметровому діленню, що повіряється. Неспівпадання між кінцевим штрихом ділення шкали екрану, що повіряється, і зображенням кінцевого штриха відповідного ділення зразкової шкали визначають за допомогою вимірювальної мікрометричної голівки приладу. |
| Визначення відносної похибки пристрою за навантаженням | Зразкові переносні динамометри типів ДОС-0,05 і ДОС-0,1 за ГОСТ 9500-84 | Ціну ділення вимірювального мікроскопа з окулярним гвинтовим мікрометром визначають за допомогою об'єкту-мікрометра, який встановлюють на робочий стіл приладу так, щоб у поле зору вимірювального пристрою попало найбільше число ділень. Інтервал вимірюють п'ять разів. По різниці відліків встановлюють число поділок на шкалі вимірювального пристрою, між першим і останнім штрихами вимірюваного інтервалу об'єкту-мікрометра, і розраховують ціну ділення вимірювального пристрою. |
Продовження таблиці 8
| Визначення відносної похибки пристрою за твердістю | Зразкові міри твердості 2-го розряду типів МТВ за ГОСТ 9031-75 | На зразкову міру наносять п'ять відбитків, розташовуючи їх рівномірно по всій поверхні міри. Якщо різниця діагоналей відбитків не перевищує 2% від найменшої з них, обчислюють середнє значення діагоналі, по якому знаходять твердість. Якщо різниця діагоналей перевищує 2%, то наносять новий відбиток. Абсолютну похибку приладу в одиницях шкали Віккерса обчислюють як різниця між знайденим значенням твердості і значенням твердості, вказаним на зразковій мірі. Відносну похибку приладу обчислюють як відношення абсолютної похибки приладу до значення твердості зразкової міри у відсотках. |
Дата добавления: 2016-01-26; просмотров: 574;