Организация исследования. Для исследования динамики эмоционально-личностных особенностей сборщиц микроэлектронных приборов использовались следующие методики: шкала реактивной

Для исследования динамики эмоционально-личностных особенностей сборщиц микроэлектронных приборов использовались следующие методики: шкала реактивной тревожности Спилбергера— Ханина (В. Л. Марищук и др., 1990), шкала личностной тревожности Тэйлор (там же), тест Айзенка (Атлас, 1980), сокращенный многофакторный опросник личности СМОЛ (В.Н.Зайцев, 1981).

Для проведения исследования были организованы две группы испытуемых: в группу 1, характеризующуюся по предварительным исследованиям минимальными проявлениями признаков хронического утомления, вошли сборщицы со стажем работы менее 1 года; в группу 2 — работницы со стажем 3 — 7 лет, находящиеся в состоянии хронического утомления. Возраст испытуемых обеих групп — от 17 до 30 лет.

Исследование динамики личностных характеристик проводилось в два этапа. Первичное обследование включало одноразовое тестирование обеих групп по всем указанным методикам. Исключение составляла шкала реактивной тревожности, которая предъявлялась 4 раза на протяжении рабочего дня. Чтобы проследить динамику личностных изменений в процессе дальнейшего увеличения профессионального стажа, через 2,5 года было проведено повторное обследование по тем же методикам.

Оценка и анализ результатов проводились с помощью стандартных для каждого теста показателей. Кроме того, для анализа данных по методике СМОЛ был разработан специальный показатель К, который отражает величину относительного отклонения (в Г-баллах) от среднего уровня индивидуального профиля личности. Оценка величины проводилась по формуле:

K = T_i - N

где i - отдельная шкала теста, T_i — оценка в Т баллах по i-йшкале, N — средний уровень профильных оценок (подсчитывается отдельно для основных и оценочных шкал). Для статистической оценки значимости различий, полученных по указанным методикам, использовались парный критерий Вилкоксона, критерий Вилкоксона—Манна—Уитни, критерий хи-квадрат.