Патентні дослідження на стадії пошуку нових ідей

Патентний пошук на стадії пошуку та відбору нових ідей, що був розглянутий раніше, є дієвим засобом досягнення мети. Важливим на цьому етапі є значення вимог до продукції на основі патентних досліджень. У тексті патенту на винахід є розділ, у якому винахідник аналізує попередній стан розвитку об'єкта техніки, розкриває недоліки відомих технічних рішень і формулює вимоги до вдосконалення цього об'єкта шляхом визначення мети винаходу. Зіставлення таких цілей з вимогами, які висувають споживачі продукції, дають багатий матеріал для забезпечення конкурентоспроможності продукції через удосконалення саме цих її якостей, що є критичними з погляду користувача (техніко-економічного показника продукції - ТЕП).

Далі для кожного з виявлених ТЕП продукції складають дина­мічні ряди патентування винаходів (табл. 3.1.)

Таблиця 3.1.

Динамічний ряд патентування винаходів, що пов'язані з поліпшенням ТЕП

В табл. 3.1. у крайній лівій графі записується найменування ТЕП, що покращується (надійність, можливість відтворення, точ­ність тощо), з числа виявлених під час аналізу текстів патентів.

У наступних п'яти графах таблиці, що відповідають п'ятьом останнім рокам, вказуються номери патентів на винаходи (корисні моделі), в яких ставиться завдання або формулюється мета, що пов'язана з поліпшенням цього ТЕП.

У нижніх рядках таблиці формуються динамічні ряди патентування, що пов'язані з поліпшенням цього ТЕП. При цьому передостанній рядок таблиці характеризує розподіл виданих охоронних документів за роками. Зручнішим для аналізу нижній (кумулятивний) рядок, в якому йде накопичення винаходів за роками.

Нижній ряд можна зобразити на графіку (рис. 3.2.).

Рис. 3.2. Динаміка патентування, що пов'язана з поліпшенням окремих ТЕП

Для виявлення коефіцієнта ваги кожного ТЕП проведемо дотичну лінію до кривих у точках перетину їх з вертикаллю, що відповідає середині дослідженого інтервалу й знайдемо тангенси кутів α₁, α₂ і α₃. Коефіцієнти ваги кожного ТЕП у частках одиниці знайдемо за формулою:

K_i = ,

де t_i - тангенс кута нахилу дотичної лінії до кривої динаміки патентування і-го ТЕП;

сума тангенсів кутів дотичних ліній до кривих динаміки винахідницької активності всіх ТЕП цієї продукції.

Отже, забезпечення одного з найважливіших чинників конкурентності - відповідності якості продукції вимогам споживача - може базуватися не тільки на традиційній методиці, пов'язаній з проведенням опитувань та анкетуванні користувачів, але й на проведенні патентних досліджень, що пов'язані з аналізом таких розділів текстів патентних документів, в яких формулюються цілі й завдання винаходу.