Дырочный полупроводник (р-типа).
В случае добавления в полупроводник акцепторной примеси одна из валентных связей вблизи атома-акцептора остаётся незаполненной (рис.6,а).
Рис. 6,а. Примесной атом In в кристалле Ge.
Такое состояние нельзя назвать дыркой, т.к. атом акцептора электрически нейтрален. Потенциальная функция вблизи атомов примеси искажается (рис.6,б).
Рис. 6,б. Положение примесного атома In на потенциальной диаграмме.
![]() |
У края потенциальной ямы акцептора энергитический уровень, лежащий несколько выше потолка валентной зоны, остаётся незаполненным.
В результате теплового возбуждения один из валентных электронов соседних атомов может нарушать валентную связь и заместить свободный энергитический уровень (заполнить валентную связь) вблизи атома акцептора. При этом четвёртый электрон связан с акцептором лишь квантомеханическими силами, т.е. его энергетическое состояние окажется выше энергии остальных трёх электронов на величину, примерно равную классической кулоновской энергии. В результате такого перехода вблизи соседнего атома, которому ранее принадлежал рассмотренный электрон, образуется дырка, а атом акцептора превратится в неподвижный отрицательно заряженный ион. Следовательно, в процессе ионизации акцепторов образуется преимущественная концентрация дырок – образуются подвижные носители лишь одного знака. Такие полупроводники называются дырочными или р-полупроводниками. Как и в случае донорных примесей, положение акцепторов в зонной диаграмме характеризуется единым локальным энергетическим уровнем, расположенным вблизи потолка валентной зоны (рис.6,в).
Выводы:
В полупроводнике, в отличие от металлического проводника, ток образуется не только за счет направленного движения (дрейфа) отрицательно заряженных свободных электронов, но и за счет дрейфа положительно заряженных дырок.
- Электропроводность собственного (беспримесного) полупроводника очень мала, т.к. при комнатной температуре в нем мало носителей заряда – свободных электронов и дырок. Из–за этого собственный полупроводник имеет ограниченное применение в полупроводниковой технике.
Дата добавления: 2015-06-01; просмотров: 833;