Вероятностный метод расчета отклонения параметров

Принципиальной основой вероятностного метода анализа погрешностей является квадратичное суммирование величин, характеризующих рассеивание погрешности, с учетом степени влияния каждого комплектующего параметра на выходной параметр функционального узла и корреляционных связей между комплектующими параметрами.

Этот метод предполагает следующие допущения: отклонение параметров от номинального значения не является случайной функцией времени, закон распределения отклонений комплектующих параметров нормальный. Данные допущения хорошо выполняются для изделий, изготавливаемых в условиях массового и серийного производства. Поле рассеивания выходного параметра функционального узла определяется вероятностным методом по формуле

,

где — половина поля отклонения выходного параметра N;

— коэффициент относительного рассеивания параметра i-го элемента;

п — количество комплектующих параметров;

— среднеквадратическое отклонение параметра i-го элемента;

— коэффициент корреляции х и у параметров;

— коэффициент влияния i-го параметра;

— коэффициент относительного рассеивания выходного параметра N.

Наличие корреляционных связей между параметрами объясняется технологическими факторами процесса производства и конструктивными особенностями каждого конкретного изделия. Достаточно сильные корреляционные связи существуют между параметрами полупроводниковых приборов. Коэффициент корреляции является численной характеристикой линейной корреляционной зависимости и вычисляется по статистическим данным, полученным при испытании изделия. Коэффициент влияния определяет степень влияния i-го комплектующего параметра на ошибку выходного параметра. Методы определения коэффициентов влияния в зависимости от сложности функционального узла могут быть расчетными или экспериментальными.

Надежность