Проверим состояние структуры.

К сожалению, ни один из современных методов исследования структуры не позволяет разглядеть расположение каждого отдельного атома в материале. Но правильное периодическое строение кристаллов дает возможность, при использовании подходящего излучения, получить дифракционную картину на кристаллической решетке. Вид дифракционной картины однозначно определяется решеткой кристалла, поэтому, используя знание законов дифракции, можно попытаться по виду изображения восстановить структуру объекта съемки.

Конечно, обратный переход, от дифракционной картины к кристаллической решетке уже не может быть таким однозначным. На вид дифракционной картины кроме самого объекта влияют условия съемки, характер излучения и т.д. В общем случае, восстановить структуру кристалла по картине дифракции, это примерно то же, что написать портрет человека по его рентгеновскому снимку: какую-то информацию (например, о росте) можно получить совершенно точно, какую-то - с определенной долей вероятности, а что-то (например, цвет волос или глаз) определить невозможно. Несмотря на определенные трудности, современные дифракционные методы позволяют решить огромный круг задач материаловедения: расшифровать кристаллическую структуру объекта, выявить в ней различные дефекты, измерить величину зерна, определить наличие или отсутствие преимущественных ориентировок в расположении отдельных кристалликов, присутствие в образце макронапряжений и микродеформации.

Для дифракции на кристаллической решетке можно использовать излучение с длиной волны сопоставимой с межатомными расстояниями: порядка 1 Å и менее. Наиболее подходящими для этой цели являются рентгеновское излучение, а также излучение быстрых электронов (с энергией порядка 100 КэВ) и тепловых нейтронов, получаемых в ядерном реакторе.